[实用新型]一种TOF深度测量装置及电子设备

权利要求书

1.一种TOF深度测量装置，其特征在于，包括：

发射模组，用于朝向目标物体的给定区域发射光束；其中，所述发射模组包括有光源以及光束扫描器，通过所述光束扫描器偏转所述光源发出的光束以照射所述目标物体的给定区域；

采集模组，用于采集经所述目标物体反射回的光束；其中，所述采集模组包括有由像素阵列组成的图像传感器；

控制与处理器，分别与所述发射模组和所述采集模组连接，以用于控制所述光束扫描器偏转所述光束以照射所述目标物体的给定区域，并根据偏转后形成的光束激活所述图像传感器中相应区域的像素，以响应由所述给定区域反射回的光束而累积的光电荷，基于该光电荷计算相位差以获得所述目标物体的距离并输出所述目标物体的深度图像。

2.如权利要求1所述的TOF深度测量装置，其特征在于：所述发射模组还包括有透镜，所述光源通过所述透镜产生线光束，所述线光束通过所述光束扫描器进行线扫描以照射所述目标物体。

3.如权利要求2所述的TOF深度测量装置，其特征在于：所述透镜为柱透镜，所述光源发出的光束经过所述柱透镜后形成第一线光束，所述第一线光束经过所述光束扫描器多次偏转后得到由多条第二线光束组成的投影图案。

4.如权利要求2所述的TOF深度测量装置，其特征在于：所述发射模组还包括有准直透镜和衍射光学元件；其中，所述光源发出的光束经过所述准直透镜准直后发出准直光束，所述准直光束通过所述衍射光学元件衍射后形成第一线串光束或第一点阵光束，所述第一线串光束或第一点阵光束经过所述光束扫描器多次偏转后得到由多条第二线串光束或第二点阵光束组成的投影图案。

5.如权利要求4所述的TOF深度测量装置，其特征在于：所述第二点阵光束为规则排列。

6.如权利要求1所述的TOF深度测量装置，其特征在于：所述控制与处理器控制所述光束扫描器每个方向的偏转次数、偏转角度以及偏转顺序以获得不同密度和不同视场角的投影图案。

7.如权利要求1所述的TOF深度测量装置，其特征在于：所述采集模组还包括有透镜单元、以及滤光片；其中，所述透镜单元用于接收由目标物体反射回的至少部分光束并成像在至少部分所述图像传感器上。

8.如权利要求1所述的TOF深度测量装置，其特征在于：所述光束扫描器为液晶偏振光栅或者MEMS扫描器。

9.如权利要求7所述的TOF深度测量装置，其特征在于：所述滤光片为与光源波长相匹配的窄带滤光片。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：壳体、屏幕以及权利要求1-9任一项所述的TOF深度测量装置；其中，所述TOF深度测量装置的发射模组与采集模组设置于电子设备的同一面，以用于向目标物体发射光束以及接收目标物体反射回来的光束并形成电信号。