[实用新型]一种nand flash储存芯片测试治具有效
| 申请号： | 202020585189.6 | 申请日： | 2020-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN211699725U | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 黄辉 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯片测试技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 nand flash 储存 芯片 测试 | ||
1.一种nand flash储存芯片测试治具，包括治具主体，其特征在于，所述治具主体上设置有两个测试槽，所述测试槽的底面上设置有若干个与nand flash储存芯片的引脚相对应的测试触点，所述测试槽的上方设置有定位支架，所述定位支架上螺纹连接定位螺杆，所述定位螺杆的底端设置有橡胶板，并且所述橡胶板通过定位板对所述nand flash储存芯片的引脚施加向下的力，使得所述引脚与所述测试触点接触。
2.如权利要求1所述的一种nand flash储存芯片测试治具，其特征在于，所述测试槽的底面上设置有与所述nand flash储存芯片的底面相对应的第一收容槽。
3.如权利要求2所述的一种nand flash储存芯片测试治具，其特征在于，所述定位板的底面上设置有与所述nand flash储存芯片的顶面相对应的第二收容槽，所述第二收容槽的两端分别设置有与所述nand flash储存芯片的引脚相对应的按压凸起。
4.如权利要求3所述的一种nand flash储存芯片测试治具，其特征在于，所述定位支架的顶板上设置有导轨槽，所述导轨槽内设置有至少一个滑块，所述导轨槽的两侧壁上分别设置有滑动凸起，所述滑块的两侧壁上分别设置有与所述滑动凸起相配合的滑动凹槽，所述滑块通过所述滑动凹槽沿所述滑动凸起滑动，所述定位螺杆的底端穿过所述滑块，并与所述滑块螺纹连接。
5.如权利要求4所述的一种nand flash储存芯片测试治具，其特征在于，所述导轨槽的一端设置有开口，所述滑块从所述开口处进入或离开所述导轨槽。
6.如权利要求5所述的一种nand flash储存芯片测试治具，其特征在于，所述导轨槽内设置有两个所述滑块。
7.如权利要求1所述的一种nand flash储存芯片测试治具，其特征在于，所述测试槽的一侧设置有卡槽，所述卡槽内可拆卸的设置有标记板。
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