[实用新型]一种具有防静电功能的芯片测试治具

权利要求书

1.一种具有防静电功能的芯片测试治具，其特征在于：包括基座（1）、活动块（2）、挡块（3），所述基座（1）的上开设有活动块容纳槽（11），所述活动块容纳槽（11）的前后两侧壁均开设有条形槽（12），所述挡块（3）固定在活动块容纳槽（11）的左右两端且位于基座（1）上面，所述活动块（2）放置于活动块容纳槽（11）内，所述活动块（2）上设有芯片槽（21），所述芯片槽（21）连接有感应槽（22），所述感应槽（22）穿设于活动块（2）上。

2.根据权利要求1所述的一种具有防静电功能的芯片测试治具，其特征在于：所述挡块（3）的两端均设有螺孔（31），所述挡块（3）的中间设有销孔（32）。

3.根据权利要求1所述的一种具有防静电功能的芯片测试治具，其特征在于：所述芯片槽（21）呈球形面设计。

4.根据权利要求1所述的一种具有防静电功能的芯片测试治具，其特征在于：所述芯片槽（21）的底部采用防静电的ESD420材质设计制作。

5.根据权利要求1所述的一种具有防静电功能的芯片测试治具，其特征在于：所述芯片槽（21）和活动块容纳槽（11）设有对应连通的通孔。

6.根据权利要求1所述的一种具有防静电功能的芯片测试治具，其特征在于：所述条形槽（12）和感应槽（22）配合设计，所述条形槽（12）的深度、宽度均大于或等于感应槽（22）的深度和宽度。

7.根据权利要求1所述的一种具有防静电功能的芯片测试治具，其特征在于：所述基座（1）上的活动块容纳槽（11）的数量不少于一个，所述活动块（2）的数量配合活动块容纳槽（11）设计。

8.根据权利要求1所述的一种具有防静电功能的芯片测试治具，其特征在于：所述活动块（2）上的芯片槽（21）的数量不少于一个。