[实用新型]一种交换机SFP+接口的测试装置

说明书

本实用新型公开了一种交换机SFP+接口的测试装置，包括：第一EEPROM、第二EEPROM、第一电阻、第一电容以及测试点；第一电阻的一端与SFP+接口的Present引脚连接；第一电容的一端与SFP+接口的SerDes_TD引脚连接，另一端与SFP+接口的SerDes_RD引脚连接；第一和第二EEPROM分别通过I2C总线与SFP+接口连接；测试点分别与SFP+接口的TX_Disable引脚、TX_Fault引脚以及RX_Los引脚连接。利用本实用新型提供的交换机SFP+接口的测试装置可以实现对交换机SFP+接口的测试，测试效率高且测试成本低。

技术领域

本实用新型涉及交换机测试领域，特别涉及一种交换机SFP+接口的测试装置。

背景技术

交换机出货前需要对其所有功能进行测试，很多交换机都会带有SFP+(SmallForm-factor Pluggable，SFP+)接口。针对SFP+接口，如果使用光模块作为陪测设备，这样测试环境搭建非常繁琐，测试工作强度大，且测试效率也很低，而且陪测设备的成本很高。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术中交换机SFP+接口使用光模块作为陪测设备存在测试强度大、测试效率低、成本高等的缺陷，提供一种交换机SFP+接口的测试装置。

本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：

一种交换机SFP+接口的测试装置，包括：第一EEPROM、第二EEPROM、第一电阻、第一电容以及测试点；

所述第一电阻的一端与SFP+接口的Present引脚连接，另一端接地；

所述第一电容的一端与SFP+接口的SerDes_TD引脚连接，另一端与SFP+接口的SerDes_RD引脚连接；

所述第一EEPROM和第二EEPROM分别通过I2C总线与SFP+接口连接，所述第一EEPROM的电源引脚与SFP+接口的Vcc_TX引脚连接，所述第二EEPROM的电源引脚与SFP+接口的Vcc_RX引脚连接；

所述测试点分别与SFP+接口的TX_Disable引脚、TX_Fault引脚以及RX_Los引脚连接。

较佳地，所述第一电阻的阻值为0欧姆。

较佳地，所述第一电容的容值为0.1微法。

在符合本领域常识的基础上，上述各优选条件，可任意组合，即得本实用新型各较佳实例。

本实用新型的积极进步效果在于：

在本实用新型提供的交换机SFP+接口的测试装置中：

第一电阻的一端与SFP+接口的Present引脚连接，另一端接地。通过读Present引脚的状态可以检测Present信号是否正确；

第一电容的一端与SFP+接口的SerDes_TD引脚连接，另一端与SFP+接口的SerDes_RD引脚连接。在测试装置中将SerDes_TD引脚和SerDes_RD引脚通过第一电容连接，实现了自环发送接收数据，通过发送和接收到的数据是否一致可以判断SerDes数据通道功能是否正常。

第一EEPROM和第二EEPROM分别通过I2C总线与SFP+接口连接，所述第一EEPROM的电源引脚与SFP+接口的Vcc_TX引脚连接，所述第二EEPROM的电源引脚与SFP+接口的Vcc_RX引脚连接。交换机SFP+接口通过I2C总线分别对第一EEPROM和第二EEPROM进行读写操作，并通过读写操作是否正确可以判断供电与I2C功能是否正常。