[实用新型]ATE设备手控测试装置

说明书

本实用新型公开了ATE设备手控测试装置，涉及电器件参数的测试技术领域，为解决现有技术中，ATE设备在测试使用时存在操作复杂、工人无法迅速分辨出测试结果的技术问题，本实用新型的技术方案如下：包括按键模块、控制器、通讯模块、驱动模块及提示装置；所述控制器通过通讯模块与ATE测试机电连接，所述控制器的输入端与按键模块的输出端电连接，所述控制器的输出端与驱动模块的输入端电连接，所述驱动模块的输出端与提示装置的输入端电连接。

技术领域

本实用新型涉及电器件参数的测试技术领域，尤其涉及ATE设备手控测试装置。

背景技术

目前我国在集成芯片的测试领域中，美国Teradyne公司的ATE设备占比为百分之三十左右，全国很多企业均使用该设备进行电器件的测试。由于该设备不具有手控盒，对于使用者而言很不方便。具体表现为：芯片在测试时由于未配备手控盒，需要测试人员将芯片放入测试机后，用鼠标在软件中点击运行按钮才可以进行测试；芯片测试完成后，生成的测试数据非专业技术人员无法从数据中分辨出器件是否合格。

实用新型内容

为解决现有技术中，ATE设备在测试使用时存在操作复杂、工人无法迅速分辨出测试结果的技术问题，本实用新型的技术方案如下：

本实用新型中的ATE设备手控测试装置，包括按键模块、控制器、通讯模块、驱动模块及提示装置；所述控制器通过通讯模块与ATE测试机电连接，所述控制器的输入端与按键模块的输出端电连接，所述控制器的输出端与驱动模块的输入端电连接，所述驱动模块的输出端与提示装置的输入端电连接，触发所述案件模块使控制器向ATE测试机发送开始测试指令，所述ATE测试机测试到当前待检测电子元件的电性能值，发送到所述控制器，所述控制器判断当前待检测电子元件的电性能值是否为设定值，若是，则驱动所述提示装置发出当前检测正常信息，若否，则驱动所述提示装置发出当前检测异常信息。

进一步，所述控制器为单片机微处理器。

进一步，所述通讯模块为串行通讯模块，与所述ATE测试机的通讯串口通过串口通讯插头电连接。

进一步，还包括供电插头，所述供电插头的输入端与ATE测试机的上位机接口电连接，输出端与通讯模块、驱动模块及控制器的电源端电连接。

进一步，所述提示装置为指示灯，所述指示灯包括黄灯、绿灯及红灯。

进一步，还包括安装壳，所述按键模块及指示灯设置于安装壳的外侧，所述控制器、通讯模块及驱动模块设置于安装壳的内侧。

本实用新型中的ATE设备手控测试装置，与现有技术相比，其有益效果为：

本实用新型中的ATE设备手控测试装置，首先解决ATE测试机在测试中费时、费力的技术问题；其次手控测试装置操作简单，不需要专业技术人员操作，只需要一个普通工人按照操作卡，放置芯片通过手控测试装置按键一键测试，通过提示装置即可区分出芯片是合格或者失效，标识简单易懂。

附图说明

图1是本实用新型中ATE设备手控测试装置的内部连接示意图；

图2是本实用新型中ATE设备手控测试装置的外部示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型的附图，对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。