[实用新型]手持式双波段共路光学断层扫描成像系统有效
| 申请号: | 202020514069.7 | 申请日: | 2020-04-09 |
| 公开(公告)号: | CN211905067U | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
| 发明(设计)人: | 张宁;谢兰迟;黎智辉;汪磊;李志刚;黄威 | 申请(专利权)人: | 公安部物证鉴定中心 |
| 主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25;G01N21/45;G01N21/47 |
| 代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 刘美丽 |
| 地址: | 100038 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 手持 波段 光学 断层 扫描 成像 系统 | ||
1.一种手持式双波段共路光学断层扫描成像系统,其特征在于该系统包括:
第一波段断层扫描模块,包括宽带光源、第一环形器和光谱仪;
第二波段断层扫描模块,包括扫频光源、第二环形器、耦合器和探测器;
样品扫描手柄,包括第一准直器、第二准直器、二向色镜、分波前镜、反射镜、离轴抛物面镜和二维MEMS振镜;其中:
所述宽带光源发出的光经第一环形器发射到第一准直器,经第一准直器发射到二向色镜,经二向色镜透射的一部分光发射到分波前镜,经分波前镜反射到反射镜后按照原光路返回成为参考光,经二向色镜透射的另一部分光直接入射到离轴抛物面镜后反射聚焦,聚焦光束经过二维MEMS振镜入射到样品中,经样品反射和散射的光为样品光,样品光和参考光沿原光路汇聚后发生干涉,干涉光经过第一环形器进入光谱仪,由光谱仪探测干涉光的光谱信号经过处理实现对样品的层析成像;
所述扫频光源发出的光经第二环形器发射到第二准直器,经第二准直器发射到二向色镜,经二向色镜反射的一部分光入射到分波前镜,经分波前镜反射到反射镜后返回成为参考光,经二向色镜反射的另一部分光直接入射到离轴抛物面镜后反射聚焦,聚焦光束经过二维MEMS振镜入射到样品,经样品反射和散射的光为样品光,样品光和参考光沿原路返回汇聚后发生干涉,干涉光经过第二环形器后发送到耦合器,耦合器根据设定的分光比将干涉光分成两束后进入探测器得到干涉光的光谱信号经过处理实现对样品的层析成像。
2.根据权利要求1所述的手持式双波段共路光学断层扫描成像系统,其特征在于,宽带光源的中心波长为850nm。
3.根据权利要求1所述的手持式双波段共路光学断层扫描成像系统,其特征在于,扫频光源的中心波长为1310nm。
4.根据权利要求1所述的手持式双波段共路光学断层扫描成像系统,其特征在于,分波前镜采用镀银反射镜,通过调节分波前镜分割波前的位置,能够连续改变参考光和样品光的分光比。
5.根据权利要求1所述的手持式双波段共路光学断层扫描成像系统,其特征在于,宽带光源、第一环形器、光谱仪和第一准直器之间采用光纤进行光信号传输;扫频光源、第二环形器、耦合器、探测器和第二准直器之间采用光纤进行光信号传输。
6.根据权利要求5所述的手持式双波段共路光学断层扫描成像系统,其特征在于,光纤采用单模光纤。
7.根据权利要求1~6任一项所述的手持式双波段共路光学断层扫描成像系统,其特征在于,光谱仪采用波数线性光谱仪,波数线性光谱仪包括棱镜和CCD,干涉光通过棱镜分光后聚焦在CCD上,实现线性波数光谱的采集。
8.根据权利要求1~6任一项所述的手持式双波段共路光学断层扫描成像系统,其特征在于,所述探测器采用双平衡探测器。
9.根据权利要求1~6任一项所述的手持式双波段共路光学断层扫描成像系统,其特征在于,所述样品扫描手柄还包括一壳体,所述壳体用于设置各光学器件。
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