[实用新型]一种紫外辐照度计低值校准装置有效

专利信息
申请号: 202020507164.4 申请日: 2020-04-09
公开(公告)号: CN211978111U 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 阚劲松;徐迎春;刘冲;褚楚;王酣 申请(专利权)人: 中国电子技术标准化研究院
主分类号: G01J1/02 分类号: G01J1/02;G01J1/08;G01J1/04
代理公司: 北京世誉鑫诚专利代理有限公司 11368 代理人: 任欣生
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 紫外 辐照 低值 校准 装置
【权利要求书】:

1.一种紫外辐照度计低值校准装置,其特征在于,包括光学平台(1)、位于所述光学平台(1)上的三套校准基本单元和一个标准紫外辐照度计(7);

每套校准基本单元包括位于同一直线上依次排列的紫外光源(2)、精密光阑(3)、盲板(4)、滤光片组(5)、衰减片组(6);

三套校准基本单元的紫外光源(2)分别为位于中间位置的第一紫外光源(21)、位于后方的第二紫外光源(22)和位于前方的第三紫外光源(23);

三个非相干的所述紫外光源(2)发射出的光经精密光阑(3)、滤光片组(5)、衰减片组(6)后汇聚于标准紫外辐照度计(7)接收器中心,被校紫外辐照度计放置与中间位置所述衰减片组(6)后面,被校紫外辐照度计与所述衰减片组(6)中心在同一水平线上。

2.根据权利要求1所述的紫外辐照度计低值校准装置,其特征在于,所述精密光阑(3)为带有精准刻度的一级精密光阑。

3.根据权利要求1所述的紫外辐照度计低值校准装置,其特征在于,所述紫外光源(2)外壳设计为小型暗箱。

4.根据权利要求1所述的紫外辐照度计低值校准装置,其特征在于,所述滤光片组(5)为窄带滤光片。

5.根据权利要求1所述的紫外辐照度计低值校准装置,其特征在于,被校紫外辐照度计探测面中心至小孔成像光源中心连线与紫外光源光轴之间的夹角不大于15°。

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