[实用新型]应用于高灵敏光耦隔离芯片传感前端的光电雪崩二极管有效
| 申请号: | 202020506143.0 | 申请日: | 2020-04-09 | 
| 公开(公告)号: | CN211957666U | 公开(公告)日: | 2020-11-17 | 
| 发明(设计)人: | 全庆霄;王辉;王嫚 | 申请(专利权)人: | 无锡豪帮高科股份有限公司 | 
| 主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107;H01L31/0352 | 
| 代理公司: | 江阴市轻舟专利代理事务所(普通合伙) 32380 | 代理人: | 曹键 | 
| 地址: | 214000 *** | 国省代码: | 江苏;32 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 应用于 灵敏 隔离 芯片 传感 前端 光电 雪崩 二极管 | ||
1.一种应用于高灵敏光耦隔离芯片传感前端的光电雪崩二极管,其特征在于它包括基板(1),所述基板(1)内设置有深N阱(2)、第一P阱(3)以及第二P阱(4),
所述深N阱(2)的横截面形状为山字形,所述深N阱(2)包括底部的横段(201)以及横段(201)上向上伸出的三个竖段,三个竖段从左向右分别为第一竖段(202)、第二竖段(203)、第三竖段(204),
所述基板(1)的顶面设置有纵向的六道浅沟道隔离区(5),六道浅沟道隔离区(5)从左至右依次平行布置,六道浅沟道隔离区(5)从左至右分别为第一浅沟道隔离区(501)、第二浅沟道隔离区(502)、第三浅沟道隔离区(503)、第四浅沟道隔离区(504)、第五浅沟道隔离区(505)以及第六浅沟道隔离区(506),
第一竖段(202)的左右两侧分别为第一浅沟道隔离区(501)和第二浅沟道隔离区(502),第二竖段(203)的左右两侧分别为第三浅沟道隔离区(503)和第四浅沟道隔离区(504),第三竖段(204)的左右两侧分别为第五浅沟道隔离区(505)和第六浅沟道隔离区(506),且第一P阱(3)位于第二浅沟道隔离区(502)和第三浅沟道隔离区(503)之间,第二P阱(4)位于第四浅沟道隔离区(504)和第五浅沟道隔离区(505)之间,第一P阱(3)的顶面设置有第一P+层(6),第二P阱(4)的顶面设置有第二P+层(7),第一P+层(6)以及第二P+层(7)上接阳极电极(8),深N阱(2)的三个竖段的顶面设置有N+层(9),N+层(9)上接阴极电极(10)。
2.根据权利要求1所述的一种应用于高灵敏光耦隔离芯片传感前端的光电雪崩二极管,其特征在于基板的掺杂浓度为1014-1015/cm3,深N阱的掺杂浓度为5*1014至5*1016/cm3,第一P阱以及第二P阱的掺杂浓度为1015至1018/cm3。
3.根据权利要求1所述的一种应用于高灵敏光耦隔离芯片传感前端的光电雪崩二极管,其特征在于第一浅沟道隔离区、第二浅沟道隔离区、第三浅沟道隔离区、第四浅沟道隔离区、第五浅沟道隔离区以及第六浅沟道隔离区的纵向尺寸和横向尺寸比例均为5:1。
4.根据权利要求1所述的一种应用于高灵敏光耦隔离芯片传感前端的光电雪崩二极管,其特征在于所述深N阱的横向尺寸为2微米至200微米,所述深N阱的纵向尺寸为0.5微米至20微米之间。
5.根据权利要求4所述的一种应用于高灵敏光耦隔离芯片传感前端的光电雪崩二极管,其特征在于所述深N阱的横向尺寸是20微米,所述深N阱的深度为1.2微米,第一竖段的宽度为1微米,第二竖段的宽度为1.5微米,第三竖段的宽度为1微米,第一浅沟道隔离区、第二浅沟道隔离区、第三浅沟道隔离区、第四浅沟道隔离区、第五浅沟道隔离区以及第六浅沟道隔离区的宽度均为0.15微米,第一P阱和第二P阱的宽度均为6微米,第一P阱和第二P阱的深度均为0.46微米。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





