[实用新型]用于校准激光三角测量系统的校准工具有效

专利信息
申请号: 202020496698.1 申请日: 2020-04-07
公开(公告)号: CN212432141U 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: E·G·凯利;J·范德弗鲁格特;N·蒂伦伯格;T·J·韦布鲁根;P·比克曼;C·J·范沃斯库伦;R·努塞尔德;G·A·伯格霍斯特;T·R·沃拉恩;B·科夫德;Q·M·伯格曼斯 申请(专利权)人: VMI荷兰公司
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00;G01B11/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 江漪
地址: 荷兰*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 校准 激光 三角测量 系统 工具
【权利要求书】:

1.一种用于校准激光三角测量系统的校准工具,其中,所述校准工具包括相对于所述测量系统能绕垂直于参考平面的旋转轴线旋转的工具主体,其中,所述工具主体设置有一个或多个校准表面,所述校准表面限定有校准位置的图案,其中,所述图案包括在径向上远离所述旋转轴线延伸的至少三列和绕所述旋转轴线沿周向延伸的至少三排,其中,对于每列,相应的列内的校准位置相对于所述参考平面的高度在垂直于所述参考平面的高度方向上有所变化,并且其中,对于每排,相应的排内的校准位置的高度相对于所述参考平面在所述高度方向上有所变化。

2.根据权利要求1所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,所述图案形成校准位置的径向网格。

3.根据权利要求1所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,对于每列,相应的列内至少一半的校准位置在所述高度方向上相对于所述参考平面具有不同的高度。

4.根据权利要求1所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,对于每列,相应的列内的校准位置相对于所述参考平面的高度在径向上远离所述旋转轴线而依次减小。

5.根据权利要求4所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,高度的依次减小具有相对于所述参考平面的恒定的减量。

6.根据权利要求4所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,高度的依次减小遵循曲率。

7.根据权利要求1所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,对于每排,相应的排内的至少一半的校准位置在所述高度方向上相对于所述参考平面具有不同的高度。

8.根据权利要求1所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,对于每排,相应的排内的校准位置相对于所述参考平面的高度在周向上依次增大。

9.根据权利要求8所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,高度的依次增大具有相对于所述参考平面的恒定的增量。

10.根据权利要求1所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,所述图案内的每个校准位置在所述高度方向上相对于所述参考平面的高度不同于同一列和同一排中其他校准位置相对于所述参考平面的高度。

11.根据权利要求1所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,对于每列,一个或多个校准表面包括用于相应列内的每个校准位置的单独的校准表面。

12.根据权利要求11所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,对于每列,所述工具主体设置有在相应列内的各校准表面之间延伸的凹部,以在径向上将各所述校准表面隔开。

13.根据权利要求12所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,相应列内的每个校准表面在从相应校准表面到凹部中的相邻一个的每个过渡部处限定有校准边缘,其中,至少一个校准位置位于所述校准边缘之一处。

14.根据权利要求11所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,对于每列,相应列内的校准表面在公共平面中延伸,其中,所述公共平面相对于所述参考平面成倾斜角度地延伸。

15.根据权利要求1所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,对于每排,一个或多个校准表面包括用于相应排内的每个校准位置的单独的校准表面。

16.根据权利要求15所述的用于校准激光三角测量系统的校准工具,其特征在于,对于每排,相应排内的各校准表面在高度方向上沿周向从一个校准表面到下一个校准表面呈台阶状。

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