[实用新型]一种用于近红外光谱透射光纤探头附件样品检测的支架有效
| 申请号: | 202020465463.6 | 申请日: | 2020-04-02 |
| 公开(公告)号: | CN212301273U | 公开(公告)日: | 2021-01-05 |
| 发明(设计)人: | 孙菁;李佩佩;栾真杰;李朵;孟晓萍 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西北高原生物研究所 |
| 主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/359 |
| 代理公司: | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 杜朗宇 |
| 地址: | 810001 青*** | 国省代码: | 青海;63 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 红外 光谱 透射 光纤 探头 附件 样品 检测 支架 | ||
本实用新型涉及近红外光谱分析器械技术领域,尤其涉及一种用于近红外光谱透射光纤探头附件样品检测的支架,包括底座、支撑杆、样品台一、样品台二、样品刮和探头夹,其中支撑杆的一端与底座可拆卸的连接;样品台一、样品台二、样品刮和探头夹通过可调节装置安装在支撑杆的另一端上。与现有技术相比,本实用新型的支架通过探头夹固定光纤探头,保证在样品检测过程中光纤探头与样品的接触面固定;消除检测过程中光纤探头的晃动;通过样品台、样品刮的调节可以固定检测样品的厚度;样品刮的使用也使粉末状样品表面平滑、均匀,提高了实验数据的稳定性,同时也减轻了手持操作造成实验员体力消耗的问题。
技术领域
本实用新型涉及近红外光谱分析器械技术领域,尤其涉及一种用于近红外光谱透射光纤探头附件样品检测的支架。
背景技术
近红外光谱是介于可见光(Vis)和中红外(MIR)之间的电磁辐射波,美国材料检测协会(ASTM)将近红外光谱区定义为780-2526nm的区域,是人们在吸收光谱中发现的第一个非可见光区。近红外光谱区与分子中含氢基团(X-H,如O-H、N-H、C-H)振动的合频和各级倍频的吸收区一致,通过扫描样品的近红外光谱,可以得到样品中分子含氢基团的特征信息,是解析有机物质结构的强有力工具,可对有机化合物中分子结构与近红外光谱之间的相关性进行定性与定量分析。目前,近红外光谱技术因快速、无损、多组分同时测定及低成本等优点,广泛应用于食品与农产品、化学化工、高分子、生物、石油工业等各分支学科及化学相关学科。
光纤的内口径自身是很好的均匀点源,作为基本光学传输部件,光纤具有传统体光学结构所没有的优势,可以很好地收集近红外光信号并且传输给后端的光谱分析仪,使光谱分析仪结构更加灵活,且可用于实时、在线测量。但是在利用光纤探头检测样品时发现:由于操作个体的差异及每次操作方式的不同,极易造成光纤探头与样品接触面角度的不同;采集样品近红外光谱时,光纤探头至样品底部的距离不同,使所检测样品的厚度不一样;另外在进行手持操作时,探头极易晃动,以上因素均会影响样品的近红外谱图的吸收,导致检测到的近红外数据不稳定,影响最终检测结果。因此迫切需要一种用于近红外光谱透射光纤探头附件样品检测的装置,来解决上述因素导致检测到的红外数据不稳定的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种用于近红外光谱透射光纤探头附件样品检测的支架,以解决上述背景技术中提出由于操作个体的差异产生光纤探头与样品接触面的角度偏差、样品检测厚度不同及检测时实验员体力消耗过大等问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种用于近红外光谱透射光纤探头附件样品检测的支架,该支架包括底座1、支撑杆2、样品台一3、样品台二4、样品刮5和探头夹6,所述支撑杆2的一端与底座1可拆卸的连接;所述样品台一3、样品台二4、样品刮5和探头夹6通过可调节装置安装在所述支撑杆2的另一端上。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述底座1为正方形板状,用于固定整个支架。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述支撑杆2与底座1的可拆卸连接为螺杆连接,其中支撑杆2的下端中空内腔设有内螺纹,螺杆穿过底座1下端的插孔11进入支撑杆2的下端中空内腔,然后通过旋转拧紧螺杆。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述支撑杆2与底座1的可拆卸连接为插接,支撑杆2的一端插入底座1上的插管12中,其中支撑杆2的一端的尺寸刚好能插入插管12中而不摇晃。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述支撑杆2与底座1的可拆卸连接为卡扣连接,其中,支撑杆2的一端有水平对称的两个凸起21,底座1上设有卡环13,支撑杆2的两个凸起21顺着卡环13上对应的口插入后,旋转即可卡住支撑杆2与底座1。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述支撑杆2的表面标有刻度值,用于调节样品台一3、样品台二4、样品刮5和探头夹6的高度。
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