[实用新型]用于高频电子元件测试的取置装置

权利要求书

1.一种用于高频电子元件测试的取置装置，用于在移料机座和用于电性测试的密封环境室间取放至少一高频电子元件以进行电性测试，所述移料机座包括用于放置高频电子元件的置料单元，及用于将高频电子元件放置于所述置料单元的机械手臂，所述密封环境室包括于底部形成有开口的中空壳体，及对应于所述开口地设置于所述中空壳体中以供至少一高频电子元件进行电性测试的测试座；其特征在于：

所述取置装置包含水平位移单元、垂直移动单元，及真空吸附单元，所述水平位移单元设置于所述移料机座与所述密封环境室间，被控制地于邻近所述置料单元的第一位置与位于所述开口下方的第二位置间移动，所述垂直移动单元被所述水平位移单元带动，且能被控制地在被带动至所述第一位置及所述第二位置其中任一时上下移动，所述真空吸附单元安装于所述垂直移动单元上，用于被控制地以负压方式吸放至少一高频电子元件，所述垂直移动单元被所述水平位移单元带动到所述第二位置，且所述垂直移动单元被控制地向上作动时，所述真空吸附单元被带动自所述开口穿伸至所述中空壳体中，并以负压方式吸放至少一高频电子元件至所述测试座。

2.根据权利要求1所述的用于高频电子元件测试的取置装置，其特征在于：所述水平位移单元包括设置于所述移料机座和所述密封环境室间的轨道，及可被控制地驱动而于所述轨道上移动至所述第一位置和所述第二位置其中任一的载台。

3.根据权利要求2所述的用于高频电子元件测试的取置装置，其特征在于：所述垂直移动单元包括安装于所述载台的移载臂，及可被控制地驱动所述移载臂上下移动的升降组件。

4.根据权利要求3所述的用于高频电子元件测试的取置装置，其特征在于：所述真空吸附单元包括安装于所述移载臂上的基座，及与外部负压系统连接并具有至少一吸嘴的真空组件。