[实用新型]一种用于检测激光的装置有效

专利信息
申请号: 202020444053.3 申请日: 2020-03-31
公开(公告)号: CN211477583U 公开(公告)日: 2020-09-11
发明(设计)人: 申伟 申请(专利权)人: 晟宇伟业(北京)科技发展有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01M11/04
代理公司: 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 代理人: 陈超
地址: 100176 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 检测 激光 装置
【权利要求书】:

1.一种用于检测激光的装置,其特征在于,包括:

平台(1);

移动部(2),所述移动部(2)设置在所述平台(1)上,被检测激光的发射器固定在所述移动部(2)上,所述移动部(2)用于调整被检测激光的发射器的位置;

质量探测器(4),所述质量探测器(4)设置在所述平台(1)上,用于检测激光束的光斑质量;

能量探测器(5),所述能量探测器(5)设置在所述平台(1)上,用于检测激光束的能量数据。

2.根据权利要求1所述的用于检测激光的装置,其特征在于,

所述移动部(2)包括X轴移动机构,所述X轴移动机构用于带动所述被检测激光的发射器沿X轴进行移动;和/或

所述移动部(2)包括Y轴移动机构,所述Y轴移动机构用于带动所述被检测激光的发射器沿Y轴进行移动;和/或

所述移动部(2)包括Z轴移动机构,所述Z轴移动机构用于带动所述被检测激光的发射器沿Z轴进行移动,所述Z轴移动机构设于所述Y轴移动机构上,所述Y轴移动机构能够带动所述Z轴移动机构沿Y轴进行移动;

其中,所述发射器发射激光方向的直线为所述X轴;在所述平台(1)所在平面内,与所述X轴垂直的直线为所述Y轴;分别与所述X轴和所述Y轴垂直的直线为Z轴。

3.根据权利要求1或2所述的用于检测激光的装置,其特征在于,还包括:衰减片(6);

所述衰减片(6)设置在所述移动部(2)与所述质量探测器(4)之间;和/或

所述衰减片(6)设置在所述移动部(2)与所述能量探测器(5)之间。

4.根据权利要求1或2所述的用于检测激光的装置,其特征在于,还包括:滤波片(7);

所述滤波片(7)设置在所述移动部(2)与所述质量探测器(4)之间;和/或

所述滤波片(7)设置在所述移动部(2)与所述能量探测器(5)之间。

5.根据权利要求1或2所述的用于检测激光的装置,其特征在于,还包括:

分光镜(3),所述分光镜(3)设置在所述平台(1)上,用于将被检测激光分成多束。

6.根据权利要求5所述的用于检测激光的装置,其特征在于,还包括:

光电探测器(11),所述光电探测器(11)设置在所述平台(1)上,用于检测被所述分光镜(3)分出的一条激光束的电学性能。

7.根据权利要求6所述的用于检测激光的装置,其特征在于,还包括:

波长探测器(12),所述波长探测器(12)设置在所述平台(1)上,用于检测被所述分光镜(3)分出的一条激光束的波长。

8.根据权利要求7所述的用于检测激光的装置,其特征在于,还包括:

反射镜(8);所述反射镜(8)设置在所述分光镜(3)与光电探测器(11)之间。

9.根据权利要求8所述的用于检测激光的装置,其特征在于,还包括:

控制器(9),所述控制器(9)分别于所述波长探测器(12)、所述光电探测器(11)、所述质量探测器(4)和所述能量探测器(5)连接,用于获取所述波长探测器(12)、所述光电探测器(11)、所述质量探测器(4)和所述能量探测器(5)测量出的数据。

10.根据权利要求9所述的用于检测激光的装置,其特征在于,所述控制器(9)包括:数据处理单元(91)和显示器(92);

所述数据处理单元(91)整理所述波长探测器(12)、所述光电探测器(11)、所述质量探测器(4)和所述能量探测器(5)测量出的数据,通过所述显示器(92)显示。

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