[实用新型]一种电连接件以及测试导通装置

说明书

本实用新型提供了一种电连接件以及测试导通装置，涉及测试装置技术领域，该电连接件包括连接本体、位于连接本体一端的第一连接部及位于连接本体另一端的第二连接部，所述第一连接部、连接本体与第二连接部一体成型；所述第二连接部连接测试基板，所述第二连接部包括有第一接触端与第二接触端，第一接触端为平面结构，第二接触端为点状或线状结构，电连接时，所述第一接触端与第二接触端均与测试基板导通。通过设置平面结构的第一接触端，提高电连接件与测试基板的接触面积，能够导通大电流，避免损坏产品及器件。第二接触端为点状或线状结构，在测试基板存在不平或因氧化问题导致接触不良时，能够与测试基板有效接触导通，提高电连接的有效性。

技术领域

本实用新型涉及测试装置技术领域，更具体地，本实用新型涉及一种电连接件以及测试导通装置。

背景技术

随着科技的发展，电子产品不断的迭代更新，制造工艺越发复杂、结构设计趋于精密，功能更加全面，鉴于此，保障电子产品的性能及其质量是电子产品生产工艺中至关重要的环节。

现有技术中，电子产品在出厂前需要对其各个性能参数进行测试，一般是通过电连接件将待测产品与测试设备导通，通过测试设备输出待测信号并接收待测产品反馈的信息，以确认待测产品是否存在不良之处。目前的电连接件为分体式结构，包括两端接触端与中间的弹性件，测试时压缩弹性件进行导通检测，长期操作后，一方面接触端会损伤，另一方面弹性件易变形，且分体式结构组装不便，成本较高。

而且，目前的电连接件与产品接触面积较小，稳定性差，无法实现通过较大电流，且容易划伤产品。

鉴于以上问题，有必要提出一种新型的电连接装置，以保障与产品间的有效接触，提高测试的稳定性及准确性，避免产品损伤。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种电连接件以及测试导通装置，以保障与产品间的有效接触，提高测试的稳定性及准确性，避免产品损伤。

为达到上述目的，本实用新型提供一种电连接件，包括连接本体、位于所述连接本体一端的第一连接部以及位于所述连接本体另一端的第二连接部，所述第一连接部、连接本体与第二连接部一体成型；所述第二连接部连接测试基板，所述第二连接部包括有第一接触端与第二接触端，第一接触端为平面结构，第二接触端为点状或线状结构，电连接时，所述第一接触端与第二接触端均与所述测试基板导通。

优选的，所述第二接触端为齿形结构，所述齿形结构的顶部与所述测试基板接触导通。

优选的，所述第一连接部连接待测产品，所述第一连接部朝向待测产品的一端成型有槽型结构，所述待测产品的连接端容纳于所述槽型结构内，所述槽型结构向待测产品方向延伸形成有导向结构，电连接导通时，所述待测产品的连接端自所述导向结构向所述槽型结构一侧移动滑入所述槽型结构内。

优选的，所述槽型结构为弧形，所述槽型结构的内壁与所述连接端接触，所述槽型结构与所述导向结构连接处呈平滑过渡。

优选的，电连接导通时，所述槽型结构槽底尺寸小于连接端尺寸，连接端与所述槽型结构的内壁相切形成两条接触线。

优选的，所述连接主体包括弹性部、由所述弹性部向上延伸与第一连接部连接的第一延伸部，以及由所述弹性部向下延伸与第二连接部连接的第二延伸部，所述第一延伸部与所述第二延伸部的宽度大于所述弹性部。

优选的，所述弹性部由至少一个U型件或C型件首尾相接组成S型结构，在外力作用下，所述U型件或C型件的开口端收缩。

优选的，所述弹性部为实心或镂空结构，当为镂空结构时，镂空孔沿所述弹性部的延伸方向延伸或分段设置。

优选的，所述第一接触端、第二接触端与第二延伸部连接形成倒置U型结构。