[实用新型]一种太阳能电池片的探针测试装置有效
| 申请号： | 202020433729.9 | 申请日： | 2020-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN211320062U | 公开（公告）日： | 2020-08-21 |
| 发明（设计）人： | 孙永;李亮亮;刘权辉;周超;刘长明 | 申请（专利权）人： | 浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67;H01L21/66;G01R31/26;H02S50/10 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张雪娇 |
| 地址： | 314416 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 太阳能电池 探针 测试 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种太阳能电池片的探针测试装置，其特征在于，包括：
磁力支架与探针排；
所述磁力支架包括探针排支架、支撑杆与底座；所述探针排支架中设置有磁铁；
所述底座与探针排支架通过支撑杆与探针排支架相连；
所述探针排的两端设置有固定块；
所述探针排通过固定块与探针排支架磁性连接。
2.根据权利要求1所述的探针测试装置，其特征在于，所述磁力支架为开关式磁力支架。
3.根据权利要求2所述的探针测试装置，其特征在于，所述探针排支架的一端与支撑杆连接；另一端设置有控制开关，通过控制开关控制探针排支架中磁铁两极的方向。
4.根据权利要求2所述的探针测试装置，其特征在于，所述探针排支架上设置有多个控制开关。
5.根据权利要求1所述的探针测试装置，其特征在于，所述底座为软磁底座。
6.根据权利要求1所述的探针测试装置，其特征在于，所述固定块上设置有凹槽；所述凹槽的形状与探针排支架的横截面的形状相匹配。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
