[实用新型]一种框架结构层间位移角测量装置有效
| 申请号： | 202020414413.5 | 申请日： | 2020-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN211626408U | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 魏昶帆;管庆松;叶鹏;刘东坤;吴勇;刘浩杰 | 申请（专利权）人： | 云南省建筑科学研究院;云南建筑工程质量检验站有限公司;震安科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 昆明今威专利商标代理有限公司 53115 | 代理人： | 赛晓刚 |
| 地址： | 650221 云*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 框架结构 间位 测量 装置 | ||
1.一种框架结构层间位移角测量装置，包括三个方形底座(1)，其特征在于：在底座(1)上方中心位置处均设有高度一致的竖直的支撑杆(2)，在每个支撑杆(2)上又分别设有两根呈一定角度的分支杆(21)，且在分支杆(21)的端部设有激光位移传感器(3)和反射片(4)，激光位移传感器(3)均与采集位移系统(5)相连接。
2.根据权利要求1所述的一种框架结构层间位移角测量装置，其特征在于：所述三个底座(1)中其中的第一底座(11)设置于框架结构(6)的框角上，另外第二底座(12)和第三底座(13)分别设置于第一底座(11)所在框角的两条边上。
3.根据权利要求2所述的一种框架结构层间位移角测量装置，其特征在于：所述第一底座(11)上的两根分支杆(21)均与第二底座(12)和第三底座(13)上的一根分支杆(21)相对且处于同一平面，第二底座(12)上的另一根分支杆(21)与第三底座(13)上的另一根分支杆(21)相对且处于同一平面。
4.根据权利要求3所述的一种框架结构层间位移角测量装置，其特征在于：所述第一底座(11)上的两根分支杆(21)上均设有反射片(4)，第二底座(12)上的两根分支杆(21)上均设有激光位移传感器(3)，第三底座(13)上的两根分支杆(21)上分别设有反射片(4)和激光位移传感器(3)，且激光位移传感器(3)都与反射片(4)相对。
5.根据权利要求4所述的一种框架结构层间位移角测量装置，其特征在于：所述采集位移系统(5)上设有自动报警装置。
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