[实用新型]用于测试高比容钽阳极容量的阴极装置

说明书

一种用于测试高比容钽阳极容量的阴极装置，包括导出连接片、钽块组件、钽块固定件，钽块固定件套装在钽块组件上，以用于将钽块组件固定牢固，导出连接片位于钽块组件的一侧，并且导出连接片的下半部与钽块组件固定连接，以用于将整个阴极装置与容量测试仪器连接；本实用新型在测试过程中阳极面积与阴极面积平均距离d始终保持稳定，使容量、损耗测试结果稳定；阴极表面积为现有的容量测试阴极表面积的2倍，比容引出率高能满足高比容钽粉测试。阴极结构接触良好，能使阳极面积与阴极面积的平均距离d始终稳定，容量及损耗测试结果稳定。

技术领域

本实用新型涉及钽阳极块比容测试设备技术领域，尤其涉及一种用于测试高比容钽阳极容量的阴极装置。

背景技术

测试阴极比表面积是影响钽阳极块容量测试的一个关键因素，随着钽阳极容量的增大，测试所需的阴极比表面积也相应增大；当阴极比表面积足够大时，钽阳极容量测试值趋于稳定并接近真实值。随着研发钽粉比容的提高就要求测试用阴极的比面积足够大，但是目前测试使用的(1)在铂片上电镀Pt黑的Pt黑阴极使用寿命短、表面积小；(2)由多个钽粉压制烧结块捆绑在银片上制得的Ag-Ta阴极结构复杂、损耗大，且捆绑的方式使钽块与银片接触不良。

目前测试使用的容量测试阴极由17个钽烧结块组成，阴极表面积小，导致正对面积S较小。在测量超高比容钽阳极时比容引出率低，不能满足高比容钽粉测试。且由于测试杯形状关系，阴极只在测试杯的一面，在测试过程中，阳极面积与阴极面积的平均距离d，随测试人员的操作习惯不同导致平均距离d也不一致，导致电容C测试结果及损耗值不稳定。由于作为阴极的钽块捆绑在银片上，导致接触不良，容量测试稳定性差。由多个钽粉压制烧结块捆绑在银片上制得的Ag-Ta阴极接触不良、阳极面积与阴极面积的平均距离d变化大、容量及损耗测试结果不稳定。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种用于测试高比容钽阳极容量的阴极装置。

一种用于测试高比容钽阳极容量的阴极装置，包括导出连接片、钽块组件、钽块固定件，钽块固定件套装在钽块组件上，以用于将钽块组件固定牢固，导出连接片位于钽块组件的一侧，并且导出连接片的下半部与钽块组件固定连接，以用于将整个阴极装置与容量测试仪器连接。

优选的，所述钽块组件包括圆柱形钽块、圆环形钽块，圆柱形钽块位于最下方，圆环形钽块安装在圆柱形钽块的长上方，并且圆环形钽块的底部与圆柱形钽块的顶部紧密贴合。

优选的，所述圆柱形钽块、圆环形钽块的中间均设置有钽片，钽片的一端均位于圆柱形钽块、圆环形钽块的内部中间位置，而钽片的另一端则向外延伸，并与导出连接片固定连接。

优选的，所述圆环形钽块的高度大于圆柱形钽块的高度。

优选的，所述圆环形钽块的高度是经一次压制成型后烧结而成。

优选的，所述圆环形钽块的高度是由至少两个单个圆环形钽块依次叠加组装而成。

优选的，所述钽块固定件的数量为至少两个，并且每个钽块固定件相互之间的夹角为90°～180°。

优选的，所述钽块固定件包括底部连接片、L形连接片、定位连接片，L形连接片位于圆环形钽块的顶部，L形连接片短边伸入到圆环形钽块的中间圆孔内，并与圆环形钽块的内壁紧密贴合，以对圆环形钽块起到紧固作用，定位连接片位于圆环形钽块及圆柱形钽块的外壁表面，并且定位连接片与圆环形钽块及圆柱形钽块的外壁外壁紧密贴合，定位连接片的上端与L形连接片长边的一端固定连接，定位连接片的下端与底部连接片的上表面固定连接，以对圆环形钽块及圆柱形钽块起到支撑定位作用，底部连接片位于圆柱形钽块的下方，并且底部连接片的上部与圆柱形钽块的底部紧密贴合，底部连接片的其中一端与定位连接片的下端固定连接，以对圆环形钽块及圆柱形钽块起到支撑作用。