[实用新型]一种光纤阵列基片的端面倾角检测装置

说明书

本实用新型公开了一种光纤阵列基片的端面倾角检测装置，属于测量装置技术领域。该装置包括机架、激光装置、基板和置物块，所述机架上安装有所述激光装置，所述机架内设有所述基板，所述基板上有激光反射区域，所述机架上设有所述置物块，所述置物块与所述激光装置相对设置。本实用新型的有益效果：本装置利用光的反射定律，通过激光对光纤阵列基片的端面倾角的角度进行直接检测，结构简单，操作方便，价格低廉。

技术领域

本实用新型属于测量装置技术领域，特别是涉及一种光纤阵列基片的端面倾角检测装置。

背景技术

光纤阵列基片的端面倾角在实际应用中，为了便于光纤上信号传输，会要求研磨成一定的角度。而现有技术中，针对于测量光纤阵列基片这种较小物体的角度一般运用光学测角法，光学测角法的设备价格相对昂贵，用来测量光纤阵列基片的端面倾角不适合。目前还没有专门的、价格便宜且操作简单易懂的测量光纤阵列基片的端面倾角的仪器。为此，我们提出一种光纤阵列基片的端面倾角检测装置。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种价格便宜、操作简单的光纤阵列基片的端面倾角检测装置。

为实现上述目的，本实用新型提供一种光纤阵列基片的端面倾角检测装置，包括机架、激光装置、基板和置物块，所述机架上安装有所述激光装置，所述机架内设有所述基板，所述基板上有激光反射区域，所述机架上设有所述置物块，所述置物块与所述激光装置相对设置。

进一步地，所述基板与所述激光装置位于所述机架的同一侧，所述基板位于所述激光装置的下方。

进一步地，所述激光装置上设有激光孔，所述置物块的上端设有凹槽，所述激光孔与所述凹槽相对设置。所述凹槽的宽度根据需要测量的光纤阵列基片的宽度设置，所述光纤阵列基片放置在所述凹槽内，所述光纤阵列基片需要测量的端面倾角位于下方。

进一步地，所述激光孔的圆心与所述凹槽的中间位置位于同一轴线所处的竖直平面上。

进一步地，所述机架上设有滑槽，所述基板活动安装在所述滑槽上，本装置测量的光纤阵列基片端面倾角的角度不同，激光反射后设出的角度不同，活动安装可保证激光反射区始终出现在所述基板上。

进一步地，所述激光反射区上设有图层。所述图层的位置根据本装置对一个需要检测的标准光纤阵列基片的端面倾角进行测量后，在激光反射区上设置所述图层。所述图层粘贴在所述基板上，当检测的角度不同，马上可以重新设置一个新的图层。

进一步地，所述滑槽上设有限位孔，限位孔均匀间隔设置有多个。所述基板在所述滑槽上下滑动，保证激光的反射区能出现所述基板上后，位于所述基板下方的限位孔上安装限位螺丝，固定所述基板的位置。

本实用新型的工作原理为：激光装置通电后，激光光束从激光孔中射出，将需要测量的光纤阵列基片放于凹槽内，光纤阵列基片上需要测量的端面倾角位于下方，利用光的反射原理，激光反射至基板上。反射光点落在图层上，则所测量的光纤阵列基片的端面倾角角度合格。

由于上述技术方案的运用，相较于现有技术，本实用新型提供的一种光纤阵列基片的端面倾角检测装置的有益效果有：成本低廉、操作简单且是一款专门测量光纤阵列基片的端面倾角的装置。

附图说明

附图1为本实用新型中一种实施例的立体结构示意图；

附图2为本实用新型中一种实施例的测量原理图；

附图3为本实用新型中一种实施例滑槽示意图。

附图中：1-机架；2-激光装置；3-激光孔；4-基板；5-图层；6-置物块；7-光纤阵列基片；8-滑槽；9-限位孔；10-凹槽。

具体实施方式