[实用新型]一种多自由度光电对射传感器测试装置有效

专利信息
申请号: 202020289778.X 申请日: 2020-03-10
公开(公告)号: CN211740264U 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 周苹;谢术光;许铭睿;吴金哲;肖昌炎 申请(专利权)人: 湖南大学
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 周长清;廖元宝
地址: 410082 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 自由度 光电 对射 传感器 测试 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种多自由度光电对射传感器测试装置,包括测试台、多维运动机构、角度偏摆机构和安装支架;多维运动机构安装于测试台上,角度偏摆机构安装于多维运动机构上,安装支架安装于测试台上且位于角度偏摆机构的上方,用于安装接收器;角度偏摆机构上安装有发射器,用于实现发射器的偏摆;多维运动机构用于带动发射器在不同方向上的运动;角度偏摆机构包括上底座、下底座、扇形蜗轮、蜗杆和旋钮,上底座与所述下底座之间滑动连接,且上底座与下底座之间的滑动面呈弧形;蜗杆安装于下底座上,一端与旋钮相连,另一端与扇形蜗轮之间形成蜗杆传动;上底座安装于扇形蜗轮上。本实用新型具有结构简单、操作简便且测试精准等优点。

技术领域

本实用新型主要涉及光电传感器测试技术领域,特指一种多自由度光电对射传感器测试装置。

背景技术

光电传感器是将光信号转换为电信号的一种器件,目前光电对射传感器的发射器是发射一字光,在进行安装时,发射器和接收器之间的安装误差会大大影响对射精度,因此,需要对光电对射传感器的安装误差等进行测量,保证光电对射传感器的精度。但是目前并不无相应的对安装抗干扰能力进行测试的装置。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题就在于:针对现有技术存在的技术问题,本实用新型提供一种结构简单、操作简便、测试精准的多自由度光电对射传感器测试装置。

为解决上述技术问题,本实用新型提出的技术方案为:

一种多自由度光电对射传感器测试装置,包括测试台、多维运动机构、角度偏摆机构和安装支架;所述多维运动机构安装于所述测试台上,所述角度偏摆机构安装于所述多维运动机构上,所述安装支架安装于测试台上且位于所述角度偏摆机构的上方,用于安装光电对射传感器的接收器;所述角度偏摆机构上安装有光电对射传感器的发射器,用于实现发射器的偏摆;所述多维运动机构用于带动所述角度偏摆机构上的发射器在不同方向上的运动;所述角度偏摆机构包括上底座、下底座、扇形蜗轮、蜗杆和旋钮,所述上底座与所述下底座之间滑动连接,且上底座与下底座之间的滑动面呈弧形;所述蜗杆安装于所述下底座上,一端与所述旋钮相连,另一端与所述扇形蜗轮之间形成蜗杆传动;所述上底座安装于所述扇形蜗轮上。

作为上述技术方案的进一步改进:

所述多维运动机构包括三维运动组件,所述三维运动组件包括X轴线性模组、Y轴线性模组和Z轴线性模组;所述X轴线性模组安装于所述测试台上,所述Y轴线性模组安装于所述X轴线性模组上,所述Z轴线性模组安装于所述Y轴线性模组上。

所述X轴线性模组包括X轴电机、X轴导轨、X轴滑块和X轴传动机构,所述X轴导轨的数量为两个且并排布置;所述X轴滑块的数量为两个且对应滑动安装于所述X轴导轨上,所述X轴电机通过X轴传动机构与其中一个所述X轴滑块相连,用于驱动所述X轴滑块在X轴导轨上滑动。

所述Y轴线性模组包括Y轴电机、Y轴导轨、Y轴滑块和Y轴传动机构,所述Y轴导轨横跨于两个X轴导轨上且两端位于所述X轴滑块上,所述Y轴滑块滑动安装于所述Y轴导轨上,所述Y轴电机通过Y轴传动机构与所述Y轴滑块相连,用于驱动所述Y轴滑块在Y轴导轨上滑动。

所述Z轴线性模组包括Z轴电机、Z轴导轨、Z轴滑块和Z轴传动机构,所述Z轴导轨安装于所述Y轴滑块上,所述Z轴滑块滑动安装于所述Z轴导轨上,所述Z轴电机通过Z轴传动机构与所述Z轴滑块相连,用于驱动所述Z轴滑块在Y轴导轨上滑动。

所述X轴传动机构、Y轴传动机构和Z轴传动机构均为丝杆传动机构。

所述角度偏摆机构通过L形板安装于所述Z轴滑块上,所述L形板的一边安装于所述Z轴滑块上,所述角度偏摆机构的下底座则紧固在所述L形板的另一边上。

所述发射器通过安装板紧固于所述角度偏摆机构的上底座上。

还包括所述光电探测器,所述光电探测器与所述接收器相连。

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