[实用新型]前后零位补偿结合检验凹非球面镜的光学系统

说明书

本专利公开了一种前后零位补偿结合检验凹非球面镜的光学系统。由检测设备发出平行光线经后零位补偿透镜汇聚到待检凹非球面镜的曲率半径球心像o后，光线发散再经前零位补偿透镜透射，至待检凹非球面镜自准反射沿原路返回。平行光检测相对会聚光路，可以忽略检测设备与补偿镜距离、偏心影响因素，装调环节少，有利于获取高精度非球面面形；前后零位补偿镜相结合，使非球面球心前后区间具有相关性，大大提升了补偿镜的像差补偿能力，可实现大相对孔径非球面检测；补偿镜与被检非球面口径比非常小仅为0.1，材料易于获取与加工；采用两片全球面透镜，数量少、结构简单，适用于各种光学仪器领域大口径、大相对孔径和高精度的非球面检测。

技术领域

本专利涉及光学检测领域，具体是指将前零位补偿方法与后零位补偿方法相结合的用于高精度大相对孔径非球面检验的平行光检测光学系统。

背景技术

大口径光学系统在天文观测、空间遥感和地基空间目标探测预警等领域得到了广泛的应用。在光学系统中使用大口径非球面镜能实现提高系统性能、改善像质、减小光学元件数量以及降低系统复杂性的目的。随着非球面光学的应用发展，光学系统在焦距一定的条件下口径越大(即相对孔径越大)则接收的能量越多，对于弱小目标的探测概率就越高，而且光学系统紧凑轻巧。大相对孔径光学系统是高分辨率成像探测领域的热点需求之一，但是大相对孔径凹非球面主镜的加工和检测一直是光学领域的难题，高精度的加工精度要求更加精密的检测方法来实现大相对孔径非球面元件的面形检测。

目前常用的凹非球面镜的检验方法主要有经典非球面检验和零位补偿非球面检验。经典非球面检验利用非球面镜自身消像差点进行自准检验，光栏位于辅助面上，光线两次经过待检非球面镜。零位补偿非球面镜检验利用补偿透镜生成的球差补偿待检凹非球面镜的法距差，进行自准检验；待检凹非球面镜是自准面，光栏位于待检凹非球面镜上，光线一次经过待检非球面镜。由于非球面镜自身消像差点自准检验方法适用于一般口径和小相对孔径的非球面镜检验，而零位补偿非球面检验利用较小的补偿透镜或反射镜可实现大口径凹非球面镜检验，所以应用更加广泛。

零位补偿检验中的补偿镜装调对于镜面加工精度极其重要，补偿镜到被测镜的距离和偏心必须严格控制，否则会引起无法预测的问题。如用于更加精准的观测天体和研究银河系以及河外星系的详细情况的哈勃望远镜，便遭遇到了严重的补偿器装调错误。哈勃望远镜主镜加工过程中对其面形的检测采用的是干涉测量方法，然而在光路系统装调过程中补偿器到被测镜出现了1.3mm的误差，导致主镜加工产生了极大的偏差，最终造成了上天后的观测距离由设计的140光年缩短为40光年，望远镜发射升空后不得不对其进行在轨修复。

零位补偿非球面镜检验方法有道尔前零位补偿、奥夫纳尔后零位补偿，两种方法又可分成有限元和无限远光路。无限远光路入射方式可以忽略检测设备到补偿镜的距离和偏心影响，设计变量少，装调敏感度低，不存在干涉仪与补偿透镜之间误差产生非球面参数偏离的影响因素。无限远光路相对有限元光路而言，具有结构简单、容易实施的优点，有利于获取高精度的非球面面形检测。然而，由于无限远奥夫纳尔后零位补偿和道尔前零位补偿的补偿镜像差校正能力有限，目前补偿镜与被检镜口径比为0.1时，测试非球面仅能实现相对孔径1/2.8、口径3m，不能满足大口径和大相对孔径的需求。可见道尔前零位补偿、奥夫纳尔后零位补偿这些方法对于采用平行光光束进行大相对孔径的凹非球面镜检验是比较困难的。

将前零位补偿检验和后零位补偿检验相结合应用于非球面检测中，增加了非球面曲率半径球心前后区间的相关性，大大提高了像差的补偿能力；平行光束入射方式可以忽略光源到补偿镜的距离和偏心影响，设计变量少，装调简单，更容易直接通过平面干涉图像定量得到待检非球面的面形误差，不存在干涉仪与补偿透镜之间误差产生非球面参数偏离的影响因素，容易实施，解决了大口径和大相对孔径的高精度非球面面形定量测试问题。

发明内容

综上所述，如何设计大口径、大相对孔径且简单易实施的高精度凹非球面平行光检验光学系统，乃是本专利所要解决的技术问题。