[实用新型]一种电解电容寿命快速检测设备

说明书

一种电解电容寿命快速检测设备，包括测试电容TEST_C1、测试电容电路及与所述测试电容电路连接的显示控制电路；所述测试电容TEST_C1通过所述测试电容电路的较大的纹波电流，表现出不同的发热程度，最终导致防爆阀打开容量失效，测试的这段时间即为测试电容TEST_C1的快速测试寿命时间，且通过所述显示控制电路显示；本实用新型可实现快速检测电解电容使用寿命及检测电解电容动态参数的目的。

技术领域

本实用新型涉及电解电容技术领域，尤其是一种电解电容寿命快速检测设备。

背景技术

充电器一直在各个领都域被广泛应用，特别是在生活领域；电解电容是充电器质量的关键因素，电解电容防爆阀打开而导致的容量失效又是电解电容最主要的故障之一。对于充电器的生产厂商来说，快速的对其所引进的电解电容进行寿命快速抽检，为其引进更优质的电解电容提供可靠依据，为提高充电器的产品质量打下坚实的基础。但现有的设备只能对其静态参数进行检测，无法对其使用寿命进行快速检测和判断；为适应一种电解电容寿命快速检测设备的改造，满足既要快速检测电解电容使用寿命又要达到检测电解电容动态参数的目的，需要实用新型一种达到此目的的设备。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种电解电容寿命快速检测设备。

本实用新型解决其技术问题是采取以下技术方案实现的：

一种电解电容寿命快速检测设备，包括测试电容TEST_C1、测试电容电路及与所述测试电容电路连接的显示控制电路；所述测试电容TEST_C1通过所述测试电容电路的较大的纹波电流，表现出不同的发热程度，最终导致防爆阀打开容量失效，测试的这段时间即为测试电容TEST_C1的快速测试寿命时间，且通过所述显示控制电路显示。

优选的，所述测试电容电路包括结构相同的测试电容充电电路及测试电容放电电路；所述测试电容充电电路的输出端通过所述测试电容TEST_C1连接所述测试电容放电电路的输入端。

优选的，所述测试电容充电电路包括限流电阻R3、R4及分别所述限流电阻R3、R4连接的充电控制管SQ1、充电负载切换开关K2；所述充电负载切换开关K2与快速恢复二极管D7连接。

优选的，所述测试电容电路还包括分别与测试电容充电电路及测试电容放电电路对应连接且结构相同的测试电容充电驱动电路及测试电容放电驱动电路；所述测试电容放电驱动电路包括驱动芯片IR2101及与所述驱动芯片IR2101连接的电解电容CD5。

优选的，还包括隔离转换电路，交流电通过所述隔离转换电路转换成测试所需的400V直流测试电压；所述隔离转换电路的输出端与所述测试电容电路的输入端连接。

优选的，所述隔离转换电路包括依次连接的变压器BT1、六路结构相同的滤波整流电路、二极管D2及电解电容CDO1；所述交流电的输出端连接所述变压器BT1；所述电解电容CDO1连接所述测试电容充电电路的输入端。

优选的，所述滤波整流电路包括依次连接的二极管D1、电容C2及电解电容CD1。

优选的，所述显示控制电路包括主控芯片及与主控芯片连接的RC电路；所述RC电路包括依次连接的电阻R1、电阻R2及电容C1。

优选的，还包括光耦隔离电路；所述光耦隔离电路包括三极管Q1及与所述三极管Q1连接的光电耦合器U2；所述测试电容放电电路的输出端与所述三极管Q1的集电极；所述三极管Q1的发射极连接光电耦合器U2。

优选的，所述一种电解电容寿命快速检测设备的工作频率为100Hz。

本实用新型的优点和积极效果是：