[实用新型]一种三极管放大电路特性参数测量仪

权利要求书

1.一种三极管放大电路特性参数测量仪，其特征在于，包括：外壳和内部的微控制器（1）、DDS（2）、程控衰减器（3）、输入阻抗网络（4）、多路程控放大器（7）、多路检波器（8）、高精度ADC（9）、高速ADC（10）以及输出阻抗网络（6）；

具体地，微控制器（1）控制DDS（2）产生电压信号，控制程控衰减器（3）、输入阻抗网络（4）和输出阻抗网络（6）来调整被测三极管放大电路的输入信号与输出信号，并将上述三个模块输出信号送入多路程控放大器（7）、高速ADC（10）、多路检波器（8）及高精度ADC（9）获得A/D采样值，微控制器（1）通过处理采样值从而得到被测电路（5）的特性参数并发至串口屏（12）和网络模块（11）。

2.根据权利要求1所述的一种三极管放大电路特性参数测量仪，其特征在于：

所述输入阻抗网络（4）、输出阻抗网络（6）实现方式为低阻抗模拟开关选通对应阻抗网络。

3.根据权利要求1所述的一种三极管放大电路特性参数测量仪，其特征在于：

所述多路程控放大器（7）、程控衰减器（3）由运算放大器与数字电位器构成，通过改变数字电位器阻值实现增益程控。

4.根据权利要求1所述的一种三极管放大电路特性参数测量仪，其特征在于：

所述高速ADC采用10MSPS采样速率的12位ADC芯片AD9220。

5.根据权利要求1所述的一种三极管放大电路特性参数测量仪，其特征在于：

所述高精度ADC采用24位分辨率和23位无噪声分辨率的8路ADC芯片ADS1256。

6.根据权利要求1所述的一种三极管放大电路特性参数测量仪，其特征在于：

所述多路程控放大器（7）输出端分为两条支路，一条支路将所有输出连接至多路检波器（8），多路检波器输出连接至高精度ADC（9），另一支路将一路输出连接至高速ADC（10），用于测量需高速采样的特性参数。

7.根据权利要求1所述的一种三极管放大电路特性参数测量仪，其特征在于：

所述三极管放大电路特性参数测量仪与被测电路（5）的连接点包括共地点、输入端口以及输出端口。

8.根据权利要求1所述的一种三极管放大电路特性参数测量仪，其特征在于：

所述串口屏（12）与测量仪电连接，包含该测量仪主要的人机交互功能，通过触屏的方式操作。

9.根据权利要求1所述的一种三极管放大电路特性参数测量仪，其特征在于：

所述网络模块（11）内置，机箱壳外接天线可实现测量仪与远程的服务器（14）的无线连接交互，用于远程操控、测量和查看。

10.根据权利要求1所述的一种三极管放大电路特性参数测量仪，其特征在于：

所述外壳外套设有橡胶保护套，对应的连接端口都设有开孔，橡胶保护套在测量仪的各个角处为加厚设计，且加厚角设有波浪形状花纹。