[实用新型]显示装置有效
申请号: | 202020145890.6 | 申请日: | 2020-01-22 |
公开(公告)号: | CN211741720U | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 吉田公二;大平启史;大滨总一郎;田中俊彦 | 申请(专利权)人: | 株式会社日本显示器 |
主分类号: | G02B27/01 | 分类号: | G02B27/01;G02F1/1333 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 杨宏军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示装置 | ||
本实用新型涉及显示装置。其课题在于提供能够检测显示区域的局部发热状态的显示装置。解决手段为下述显示装置,其具备:具有显示区域的基板;设置于基板上方的屏蔽导电层;和配置于俯视下与显示区域及屏蔽导电层重叠的位置的、多根温度检测用布线。温度检测用布线的一端与第一布线连接,温度检测用布线的另一端与第二布线连接,在第一布线与第二布线之间,检测根据温度变化而变化的电阻。
技术领域
本实用新型涉及显示装置。
背景技术
将图像向玻璃等具有透光性的构件投影的所谓平视显示器 (HUD:Head UpDisplay)是已知的(例如,专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2015-210328号公报
专利文献2:日本特开2016-051090号公报
实用新型内容
实用新型要解决的课题
根据专利文献1的技术,有时太阳光介由光学系统向显示装置入射。若由光学系统聚光的太阳光照射至显示装置,则显示装置可能劣化。
专利文献2中记载了在显示区域的外侧配置有温度传感器的液晶显示装置。由于太阳光的入射状态根据太阳与显示装置的相对位置而变化,因此,就专利文献2的温度传感器的位置而言,未必能够检测由光学系统聚光的太阳光。
本实用新型是鉴于上述课题而作出的,目的在于提供能够检测显示区域的局部发热状态的显示装置。
用于解决课题的手段
为了解决上述课题、实现目的,一个方式的显示装置具备:具有显示区域的基板、设置于上述基板的上方的屏蔽导电层、和配置于俯视下与上述显示区域及上述屏蔽导电层重叠的位置的、多根温度检测用布线,上述温度检测用布线的一端与第一布线连接,上述温度检测用布线的另一端与第二布线连接,在上述第一布线与上述第二布线之间,检测根据温度变化而变化的电阻。
作为优选的方式,上述屏蔽导电层具有高于上述温度检测用布线的薄层电阻值,多根上述温度检测用布线层叠于上述屏蔽导电层的上方或下方。
作为优选的方式,上述温度检测用布线与上述屏蔽导电层隔着绝缘层而层叠,上述温度检测用布线与上述屏蔽导电层绝缘。
作为优选的方式,上述屏蔽导电层包含选自ITO、IZO、SnO中的一种以上的母材、和分散于上述母材中的SiO2、TiO2、Ta2O5、Nb2O5、 MgF2中的任一种以上的分散材料。
作为优选的方式,上述屏蔽导电层由选自碳纳米管结构的导电体、 PEDOT、锑掺杂氧化锡中的一种以上所形成。
附图说明
图1为示意性地说明平视显示器的说明图。
图2为示意性地说明显示装置的说明图。
图3为说明显示装置的像素的说明图。
图4为示出显示装置的示意截面的截面图。
图5为用于对温度检测用布线的配置进行说明的平面图。
图6为将图5所示的区域Ra放大而示出的平面图。
图7为用于对实施方式1涉及的温度检测用布线的制造方法进行说明的工序图。
图8为示出1根温度检测用布线的相对于温度的电阻变化率的坐标图。
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