[实用新型]一种检测薄膜的气胀轴结构

说明书

本实用新型为一种检测薄膜的气胀轴结构，包括转动设置在柜体上的气胀轴本体和套设置所述气胀轴本体外侧的卷芯，所述气胀轴本体周向设置有若干用于检测薄膜的薄膜传感器，所述卷芯上开设有检测孔，所述检测孔的位置与所述薄膜传感器位置相对应，所述气胀轴本体上还设有用于限制卷芯位置的限位块。本实用新型结构简单，通过薄膜传感器来检测是否存在薄膜，从而让气胀轴停止工作，从而间接保护张紧气缸，防止长时间撞击导致张紧气缸损坏、精度降低。

技术领域

本实用新型涉及卷绕装置技术领域，具体为一种检测薄膜有无的气胀轴本体连接机构。

背景技术

自动测试机包括张紧气缸8、导向轮7和气胀轴本体2，如图 1所示，张紧气缸8通过薄膜9与导向轮7和气胀轴本体2连接，在卷芯1上的膜放卷结束的时候无法自行感知是否有薄膜9存在，所以在最后一点薄膜9脱离卷芯1之后，由于张紧气缸8、导向轮 7和气胀轴本体2之间存在张紧力，张紧气缸8会瞬间到达最大位置，其撞击力度较大，长时间撞击会导致张紧气缸8损坏，张紧滚轮损坏，机台经常性受撞击导致精度下降。

实用新型内容

本实用新型为了解决气胀轴无法检测卷芯上的薄膜是否存在的问题，本实用新型提供了一种检测薄膜的气胀轴结构，包括转动设置在柜体上的气胀轴本体和套设置所述气胀轴本体外侧的卷芯，所述气胀轴本体周向设置有若干用于检测薄膜的薄膜传感器，所述卷芯上开设有检测孔，所述检测孔的位置与所述薄膜传感器位置相对应，所述气胀轴本体上还设有用于限制卷芯位置的限位块。

作为优选，所述薄膜传感器的数量为四个，四个所述薄膜传感器沿所述气胀轴本体周向均匀分布。薄膜传感器的型号为SICK WL2SG-2P3235。如果当薄膜传感器设置为一个时，很有可能存在卷芯上薄膜快没了的时候，薄膜传感器未检测到薄膜没了；但又考虑成本，本申请采用四个薄膜传感器进行说明，当卷芯上的薄膜快没了的时候，四个薄膜传感器配合可以提前检测到薄膜没了，使张紧气缸停止工作，多个薄膜传感器可以检测多个位置，防止薄膜传感器未检测到薄膜没了从而损坏张紧气缸。

进一步地，所述限位块位于所述气胀轴本体靠近所述柜体的一端。限位块为凸起结构，限制卷芯的放置位置。

作为优选，所述气胀轴上还设有走线槽，所述走线槽与所述薄膜传感器连通。

有益效果：本实用新型结构简单，通过薄膜传感器来检测是否存在薄膜，从而让气胀轴停止工作，从而间接保护张紧气缸，防止长时间撞击导致张紧气缸损坏、精度降低。

附图说明

图1为现有技术整体结构示意图；

图2为本实用新型气胀轴和卷芯装配示意图；

1、卷芯；2、气胀轴本体；3、薄膜传感器；4、检测孔；5、限位块； 6、柜体；7、导向轮；8、张紧气缸；9、薄膜；10、走线槽。

具体实施方式

一种检测薄膜的气胀轴结构，包括转动设置在柜体6上的气胀轴本体2和套设置所述气胀轴本体2外侧的卷芯1，所述气胀轴本体2周向设置有若干用于检测薄膜9的薄膜传感器3，所述卷芯 1上开设有检测孔4，所述检测孔4的位置与所述薄膜传感器3位置相对应，所述气胀轴本体2上还设有用于限制卷芯1位置的限位块 5。

所述薄膜传感器3的数量为四个，四个所述薄膜传感器3沿所述气胀轴本体2周向均匀分布。所述限位块5位于所述气胀轴本体 2靠近所述柜体6的一端。所述气胀轴本体2上还设有走线槽10，所述走线槽10与所述薄膜传感器3连通。

工作原理：先把卷芯1套在气胀轴上，直至顶住气胀轴本体 2上的限位块5，然后在卷芯1上安装薄膜9与导向轮7、张紧气缸 8等依次连接，当气胀轴本体2上的薄膜传感器3检测到卷芯1上薄膜9不存在时，薄膜传感器3工作，即给出信号，使该轴停止转动，从而保证气胀轴本体2不会脱开薄膜9，使张紧气缸8瞬间失去张力撞击机台。