[实用新型]一种绿光垂直腔面发射半导体激光器有效

专利信息
申请号: 202020101107.6 申请日: 2020-01-17
公开(公告)号: CN211556423U 公开(公告)日: 2020-09-22
发明(设计)人: 李林;曾丽娜;李再金;乔忠良;曲轶;彭鸿雁 申请(专利权)人: 海南师范大学
主分类号: H01S5/183 分类号: H01S5/183;H01S5/343
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 571158 海*** 国省代码: 海南;46
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摘要:
搜索关键词: 一种 垂直 发射 半导体激光器
【权利要求书】:

1.一种绿光垂直腔面发射半导体激光器,其特征是:包括蓝宝石衬底,缓冲层,第一底部DBR层,第一下势垒层,第一有源层,隧道结,电流注入层,第一上势垒层,第一顶部DBR层,欧姆接触层,第二底部DBR层,第二下势垒层,第二有源层,第二上势垒层,第二顶部DBR层和窗口层。

2.根据权利要求1所述的一种绿光垂直腔面发射半导体激光器,其特征是:只需一次外延生长即可完成包括第一底部DBR层,第一下势垒层,第一有源层,隧道结,电流注入层,第一上势垒层,第一顶部DBR层,欧姆接触层,第二底部DBR层,第二下势垒层,第二有源层,第二上势垒层,第二顶部DBR层和窗口层在内的绿光垂直腔面发射半导体激光器完整外延结构,无需二次外延生长,从而能够保证获得高质量的外延材料。

3.根据权利要求1所述的一种绿光垂直腔面发射半导体激光器,其特征是:在衬底层上由下至上依次包括:蓝宝石衬底,该衬底用于在其上外延生长垂直腔面发射激光器各层材料;缓冲层,为GaN材料,该缓冲层制作在衬底上,用于阻止衬底中缺陷的转移;第一底部DBR层,为外延生长不同掺杂浓度的n型n-GaN/n+-GaN DBR同质结材料;第一下势垒层,该层制作在底部DBR层上;第一有源层,为多量子阱,该层制作在第一下势垒层上;隧道结,该层制作在第一有源层上;电流注入层,该层制作在隧道结上;第一上势垒层,为厚度是100nm的GaN材料,制作在电流注入层上;第一顶部DBR层,为外延生长不同掺杂浓度的n型n-GaN/n+-GaN DBR同质结材料,该DBR层制作在第一上势垒层上;欧姆接触层,为厚度是300nm的n+-GaN材料,该层制作在第一顶部DBR层上;第二底部DBR层,为外延生长不同掺杂浓度的n型n-GaN/n+-GaN DBR同质结材料,该层制作在欧姆接触层上;第二下势垒层,为GaN材料,制作在第二底部DBR层上;第二有源层,为多量子阱,该层制作在第二下势垒层上;第二上势垒层,为厚度是100nm的GaN材料,该层制作在第二有源层上;第二顶部DBR层,为外延生长不同掺杂浓度的n型n-GaN/n+-GaN DBR同质结材料,该DBR层制作在第二上势垒层上;窗口层,为GaN材料,为厚度是100nm的n+-GaN材料,该层制作在第二顶部DBR层上。

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