[实用新型]真空延后入料装置

说明书

本实用新型提供了一种真空延后入料装置，适用于对复数个电子元件进行延缓入料，该真空延后入料装置两侧边分别设置一转盘及一传送轨道，其包含一马蹄铁形状的座体，一吸附单元，一止动单元，以及一光学检测单元，该座体依序具有一第一真空吸气孔，一检测孔，一止动孔，以及一第二真空吸气孔，该吸附单元包括一第一吸附件及一第二吸附件，该止动单元包括一止动装置及一阻挡件，该阻挡件连接于该止动装置上方并穿设于该止动孔中，该光学检测单元对称设置于该检测孔的上方及下方。

技术领域

本新型是有关一种电子元件延后入料装置，特别是指一种真空延后入料装置。

背景技术

在高科技的制程技术日新月异下，电子元件朝向微型化、体积缩小、功能增加的定位发展，其中，在制程过程中会面临部分的电子元件附着细微的灰尘或是制程瑕疵等无法避免的因素，而为了维持品质稳定，会进行良率检测作业，待确认品质无虞后才进行包装，以提升电子元件的品质良率。

电子元件的检测、包装通常是由一包装机进行，而检测、包装的方式是将电子元件倒入震动盘，通过震动盘的震动，将各电子元件沿着震动盘周缘分别送出，并通过输送轨道将电子元件送至入料装置并由转盘带离输送轨道，进行检测、密封包装。当电子元件被输送轨道送至入料装置进行测试前，入料装置的阻挡件会将电子元件阻挡下来，待最靠近转盘的电子元件进入转盘后，阻挡件降下并配合气流带动使电子元件通过并进入转盘，而移动到下一步骤的设备进行测试。

然而，本用于带动电子元件进入转盘的气流，恐因气流过强而同时将两个电子元件吸入，像是LED成品本身容易有残留胶，或是有接脚的被动元件，容易有成品两两相粘，抑或接脚相钩等无法避免的问题，上述情况将使设备发出异常信号，最后必须经由人工排除，造成时间成本的浪费。

上述缺点都显现常规熟知电子元件于进行入料过程所衍生的种种问题，长久下来，常常导致电子元件的检测的作业效率不佳，因此，如何解决电子元件依序入料，进一步提高电子元件的电性检测作业效率，为各方所面临与重视的课题，现有技术确实有待提出更佳解决方案的必要性。

实用新型内容

有鉴于此，本新型的目的，是提供一种真空延后入料装置，适用于对复数个电子元件进行延后入料，该真空延后入料装置两侧边分别设置一转盘及一传送轨道，其包含一马蹄铁形状的座体、一吸附单元、一止动单元、及一光学检测单元。

该座体依序具有一第一真空吸气孔、一检测孔、一止动孔及一第二真空吸气孔，该吸附单元包括一第一吸附件及一第二吸附件，其中该第一吸附件通过一第一气流通道与该第一真空吸气孔连接，该第二吸附件通过一第二气流通道与该第二真空吸气孔连接，该止动单元包括一止动装置及一阻挡件，该阻挡件连接于该止动装置上方并穿设于该止动孔中，及该光学检测单元对称设置于该检测孔的上方及下方，且该光学检测单元设置于该止动单元及该转盘之间。

本新型的另一技术手段，当一电子元件自该传送轨道进入该座体，且依序经过一列设置的该第二真空吸气孔、该止动孔、该检测孔及该第一真空吸气孔，再由该转盘带动远离该座体。

本新型的又一技术手段，该第一吸附件会吸引最靠近该转盘的电子元件进入该转盘，且该第二吸附件则延后第二靠近该转盘的电子元件作动。

本新型的再一技术手段，该光学检测单元侦测到该电子元件遮蔽于该检测孔时，该止动装置会往上移动且导引该阻挡件凸出于该止动孔，阻挡第二靠近该转盘的电子元件进入该转盘，反之，当该光学检测单元侦测未被该电子元件遮蔽该检测孔时，该止动装置会往下位移，让第二靠近该转盘的电子元件受到该第一吸附件的吸引，而通过该止动孔，再来通过该检测孔，往该转盘方向靠近。

本新型的另一技术手段，该马蹄铁形状的座体上开设一容置槽，该容置槽可分离地对应设置一入料板，其中，该入料板及该容置槽分别依序对应该第一真空吸气孔、该检测孔、该止动孔及该第二真空吸气孔。

本新型的又一技术手段，较佳地，该第一气流通道及该第二气流通道，分别与该座体一体成型。