[实用新型]芯片测试装置及控制器电路板

说明书

本实用新型公开了一种芯片测试装置及控制器电路板，芯片测试装置包括：芯片测试座、芯片测试电路板和控制器电路板，其中，芯片测试座与待测芯片可插拔连接，芯片测试座固定于芯片测试电路板上，芯片测试座与芯片测试电路板电连接；芯片测试电路板设有多个引脚连接孔，每个引脚连接孔的第一端通过芯片测试座与待测芯片的引脚电连接；控制器电路板设有多个焊盘，焊盘与引脚连接孔一一对应，每个引脚连接孔的第二端通过导线与对应的焊盘电连接，控制器电路板用于将测试指令发送至待测芯片。本实用新型通过芯片测试座可插拔固定待测芯片，并将待测芯片的引脚通过导线与控制器电路板连接，操作简单，测试效率高，同时提高了控制器电路板的生产效率。

技术领域

本实用新型实施例涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试装置及控制器电路板。

背景技术

控制器是实现产品自动控制的核心部件，可以指挥产品的各个部件按照指令要求协调工作，其中，CPU芯片是控制器电路板上的重要元件。在已经投入使用的大功率风电机组中，部分控制器采用国外进口型号。

在雷雨、跳闸、大风、盐雾等恶劣的自然环境及电网环境下，风电机组中的控制器容易发生元器件损坏和短路击穿等故障。目前，部分国外进口的控制器电路板已经停产，控制器电路板的关键元器件例如CPU芯片也已经停产，因此，在进口的控制器电路板发生故障时，需要采用国产化的控制器电路板进行替代，同时，需要替换已经停产的关键元器件例如CPU芯片。

不同型号的CPU芯片在通讯过程中的通讯波特率不同，CPU芯片与控制器的通讯波特率不匹配会导致控制器电路板无法工作。目前，在生产国产化的控制器电路板时，通常先将芯片焊接到电路板上，再对芯片进行测试，如果芯片与控制器不匹配，更换芯片需要花费大量的时间，且容易损坏控制器电路板。

实用新型内容

本实用新型提供一种芯片测试装置，以解决芯片焊接测试导致的用时长、易损坏电路板的问题，操作简单，测试效率高。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种芯片测试装置，包括：芯片测试座、芯片测试电路板和控制器电路板，其中，

所述芯片测试座与待测芯片可插拔连接，所述芯片测试座固定于所述芯片测试电路板上，所述芯片测试座与所述芯片测试电路板电连接；

所述芯片测试电路板设有多个引脚连接孔，每个所述引脚连接孔的第一端通过所述芯片测试座与所述待测芯片的引脚电连接；

所述控制器电路板设有多个焊盘，所述焊盘与所述引脚连接孔一一对应，每个所述引脚连接孔的第二端通过导线与对应的所述焊盘电连接，所述控制器电路板用于将测试指令发送至所述待测芯片，并接收所述待测芯片生成的反馈信号。

可选地，所述的芯片测试装置还包括：固定柱，所述芯片测试电路板还设有多个第一固定孔，所述控制器电路板还设有多个第二固定孔，所述第二固定孔与所述第一固定孔一一对应，所述固定柱分别与所述第一固定孔和所述第二固定孔相连，所述固定柱用于将所述芯片测试电路板和所述控制器电路板紧固连接。

可选地，所述导线的第一端与所述引脚连接孔的第二端焊接连接，所述导线的第二端与所述焊盘焊接连接。

可选地，所述导线包括导体和绝缘层，所述导体的外径尺寸为0.1毫米至0.2毫米。

可选地，所述控制器电路板还设有通讯接口、按键接口和显示接口，

所述通讯接口分别与所述焊盘和测试机连接，所述通讯接口用于接收所述测试机发出的测试指令，将所述测试指令发送至所述待测芯片，并将所述待测芯片生成的反馈信号发送至所述测试机；

所述按键接口的输入端与按键装置连接，所述按键接口的输出端与所述焊盘连接，所述按键接口用于接收所述按键装置发出的按键测试指令，并将所述按键测试指令发送至所述待测芯片；