[发明专利]扩增曲线基线确定方法、装置以及电子设备

权利要求书

1.一种扩增曲线基线确定方法，其特征在于，所述方法包括：

获取未知样本扩增数据，利用聚类分析法从所述未知样本扩增数据中确定明显扩增样本和非明显扩增样本；

利用线性拟合方法确定所述明显扩增样本的扩增曲线基线以及最短基线期；

基于所述最短基线期确定所述非明显扩增样本的扩增曲线基线。

2.根据权利要求1所述的扩增曲线基线确定方法，其特征在于，所述获取未知样本扩增数据的步骤，包括：

采集未知样本的PCR扩增数据。

3.根据权利要求2所述的扩增曲线基线确定方法，其特征在于，所述利用聚类分析法从所述未知样本扩增数据中确定明显扩增样本和非明显扩增样本的步骤，包括：

利用Savitzky-Golay求导法和聚类分析法，从所述PCR扩增数据中确定明显扩增样本和非明显扩增样本。

4.根据权利要求3所述的扩增曲线基线确定方法，其特征在于，所述利用Savitzky-Golay求导法和聚类分析法，从所述PCR扩增数据中确定明显扩增样本和非明显扩增样本的步骤，包括：

利用Savitzky-Golay求导法，确定所述PCR扩增数据的导数曲线，并查找所述导数曲线的极大值点；

基于所述极大值点利用聚类评价指标，从所述PCR扩增数据中确定明显扩增样本和非明显扩增样本，并确定所述明显扩增样本对应的最大一阶导数位置。

5.根据权利要求4所述的扩增曲线基线确定方法，其特征在于，所述利用线性拟合方法确定所述明显扩增样本的扩增曲线基线以及最短基线期的步骤，包括：

利用线性拟合方法，在所述最大一阶导数位置之前查找所述明显扩增样本的第一斜率最小区域；

按照从所述第一斜率最小区域向两端扩充的方式，查找拟合度达到第一预设值的第一扩增区域以及所述第一扩增区域对应的第一基线；

将原始扩增曲线与所述第一基线进行相减，得到去除基线后的第一扩增曲线；

综合所有所述明显扩增样本的所述第一扩增曲线，确定最短基线期。

6.根据权利要求1所述的扩增曲线基线确定方法，其特征在于，所述基于所述最短基线期确定所述非明显扩增样本的扩增曲线基线的步骤，包括：

基于所述最短基线期，利用线性拟合方法确定所述非明显扩增样本的扩增曲线基线。

7.根据权利要求6所述的扩增曲线基线确定方法，其特征在于，所述基于所述最短基线期，利用线性拟合方法确定所述非明显扩增样本的扩增曲线基线的步骤，包括：

基于所述最短基线期，利用线性拟合方法确定所述非明显扩增样本的第二斜率最小区域；

按照从所述第二斜率最小区域向两端扩充的方式，查找拟合度达到第二预设值的第二扩增区域以及所述第二扩增区域对应的第二基线；

将原始扩增曲线与所述第二基线进行相减，得到去除基线后的第二扩增曲线。

8.一种扩增曲线基线确定装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取未知样本扩增数据，利用聚类分析法从所述未知样本扩增数据中确定明显扩增样本和非明显扩增样本；

第一确定模块，用于利用线性拟合方法确定所述明显扩增样本的扩增曲线基线以及最短基线期；

第二确定模块，用于基于所述最短基线期确定所述非明显扩增样本的扩增曲线基线。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器，所述存储器中存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述权利要求1至7任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可运行指令，所述计算机可运行指令在被处理器调用和运行时，所述计算机可运行指令促使所述处理器运行所述权利要求1至7任一项所述的方法。