[发明专利]一种CMOS图像传感器的测试方法和系统有效

专利信息
申请号: 202011642675.8 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN112752097B 公开(公告)日: 2023-05-26
发明(设计)人: 刘洋;李扬;马成;戚忠雪 申请(专利权)人: 长春长光辰芯微电子股份有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 代理人: 高一明;郭婷
地址: 130000 吉林省长春市经济技术开发区*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 cmos 图像传感器 测试 方法 系统
【说明书】:

发明提供了一种CMOS图像传感器的测试方法和系统,所述测试系统包括总控制器和图像传感器安装设备;所述图像传感器安装设备用于安装所述CMOS图像传感器,所述图像传感器安装设备上还设置有引脚调试设备,所述引脚调试设备用于配置所述CMOS图像传感器上各个引脚的工作模式;所述总控制器与所述引脚调试设备电连接,用于控制所述引脚调试设备对所述CMOS图像传感器上各个引脚进行调试。上述方案通过构建一个通用的图像传感器测试平台来满足图像传感器的测试条件,从而减轻了重复性的测试工作量以及测试准备时间。

技术领域

本发明涉及图像传感器领域,尤其涉及一种CMOS图像传感器的测试方法和系统。

背景技术

随着集成电路制造技术的发展和集成电路设计水平的不断提高,基于CMOS集成电路工艺技术制造的CMOS图像传感器由于其集成度高、功耗低、体积小、工艺简单、成本低且开发周期短等特点,使其在于CCD的竞争中逐渐处于优势地位。CMOS图像传感器被广泛应用于各类照相产品中,具有广泛的市场应用前景。

随着半导体技术的飞速发展,CMOS图像传感器的应用范围在不断扩大,其在监控安保、机器视觉、智能汽车以及消费产品等领域有着无限的应用空间,而图像传感器是这些技术发展的一个关键点,由于图像传感器的封装尺寸以及引脚数量的不同,在对其进行测试的时候需要针对不同的图像传感器设计不同的测试系统,而很多时候不同的测试系统的差别并不大,如果仅仅是因为管脚分布顺序的不用,就导致整个测试系统无法被继续使用,无疑会极大浪费测试资源。

发明内容

因此,本发明提供了一种CMOS图像传感器的测试的技术方案,用以解决现有的CMOS图像传感器的测试系统复用性差、搭建复杂的问题。

在随后的介绍中将部分地阐述本发明的其它优点、目的和特征,并且一部分对于本领域的普通技术人员在随后的检验时或通过本发明的实践将变得明显。

为了实现这些目的和其它优点并且根据本发明的目的,如在此实施并宽泛地描述的,本发明第一方面提供了一种CMOS图像传感器的测试系统,所述测试系统包括总控制器和图像传感器安装设备;

所述图像传感器安装设备用于安装所述CMOS图像传感器,所述图像传感器安装设备上还设置有引脚调试设备,所述引脚调试设备用于配置所述CMOS图像传感器上各个引脚的工作模式;

所述总控制器与所述引脚调试设备电连接,用于控制所述引脚调试设备对所述CMOS图像传感器上各个引脚进行调试。

优选地,所述测试系统还包括数据缓存器;

所述数据缓存器与所述总控制器电连接,所述数据缓存器用于对所述CMOS图像传感器传输的图像数据进行缓存。

优选地,所述测试系统还包括数据处理器,所述数据处理器分别与所述数据缓存器、所述总控制器电连接;

所述数据处理器用于接收所述总控制器发出的数据处理控制信号后,获取所述数据缓存器中缓存的图像数据,并对所述图像数据进行处理和计算,并根据处理和计算结果生成测试报告。

优选地,所述数据处理器为FPGA处理器。

优选地,所述测试系统还包括测试结果显示设备,所述测试结果显示设备与所述数据处理器连接,所述测试结果显示设备用于显示所述测试报告。

优选地,所述测试系统还包括光源控制器,所述光源控制器与所述总控制器连接;所述光源控制器用于接收所述总控制器发出的光源控制信号,并根据所述光源控制信号为所述CMOS图像传感器提供测试光。

优选地,所述光源控制器包括光源配置寄存器,所述光源配置寄存器存储有多个光源模式的运行数据;

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