[发明专利]瑕疵检测方法及装置、计算机设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202011640557.3 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN112669300A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 茅心悦 申请(专利权)人: 上海智臻智能网络科技股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/10;G06T7/73;G06K9/62;G01N21/88
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张振军
地址: 201803 上海市嘉*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 瑕疵 检测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种瑕疵检测方法,其特征在于,所述方法包括:

获取目标图片;

对所述目标图片进行特征识别和分类,得到所述目标图片包含的一个或多个特征的类别信息,将所述类别信息记作第一结果;

分别对各个所述特征进行实例分割,以得到第二结果,所述第二结果包括所述特征包含的一个或多个实例以及每一实例对应的位置信息;

根据所述第一结果和第二结果得到所述目标图片的瑕疵检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述目标图片进行特征识别和分类,包括:

将所述目标图片输入特征提取模型中,得到所述目标图片不同特征维度的多个特征信息层,所述特征提取模型是根据样本图片中的特征提取进行分析得到的、用以提取输入的图片中的特征信息层的模型;

结合多个特征信息层进行特征识别和分类。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述得到所述目标图片不同特征维度的多个特征信息层之后、所述结合多个特征信息层进行特征识别和分类之前,所述方法还包括:

增加所述多个特征信息层的细节信息,以扩展所述目标图片的特征信息层的层数,得到扩展后的特征信息层。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述对所述目标图片进行特征识别和分类,所述方法还包括:

得到所述目标图片包含的特征的位置信息;

所述得到扩展后的特征信息层之后,所述方法还包括:

从所述扩展后的特征信息层中至少选择一个特征信息层,记作代表层;

所述分别对各个所述特征进行实例分割,包括:

将所述代表层和各个所述特征的位置信息输入动态卷积网络中,通过所述动态卷积网络生成所述目标图片的掩膜图,所述目标图片的掩膜图中标注有第二结果。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述获取目标图片之前,所述方法还包括:

对原始图片进行切割,得到多张所述目标图片;

所述通过所述动态卷积网络生成所述目标图片的掩膜图之后,所述方法还包括:

将所述原始图片的多张目标图片的掩膜图进行拼接,得到所述原始图片的掩膜图。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,对所述原始图片切割得到的多张目标图片的尺寸相同。

7.一种瑕疵检测装置,其特征在于,所述装置包括:

目标图片获取模块,用于获取目标图片;

第一结果获取模块,用于对所述目标图片进行特征识别和分类,得到所述目标图片包含的一个或多个特征的类别信息,将所述类别信息记作第一结果;

第二结果获取模块,用于分别对各个所述特征进行实例分割,以得到第二结果,所述第二结果包括所述特征包含的一个或多个实例以及每一实例对应的位置信息;

瑕疵检测结果获取模块,用于根据所述第一结果和第二结果得到所述目标图片的瑕疵检测结果。

8.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器运行所述计算机程序时执行权利要求1至6任一项所述方法的步骤。

9.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序运行时执行权利要求1至6任一项所述方法的步骤。

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