[发明专利]芯片测试方法、装置、存储介质及设备

权利要求书

1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：

根据待测试芯片获取第一测试文件，其中，所述第一测试文件为可执行文件；

根据所述待测试芯片从预设的多个测试定义文件中选择目标测试定义文件，其中，所述测试定义文件中包括测试参数；

获取所述目标测试定义文件；

将所述第一测试文件与所述目标测试定义文件结合，得到第二测试文件；

根据所述第二测试文件对所述待测试芯片进行测试，得到所述待测试芯片的测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在根据待测试芯片获取第一测试文件之前，获取多个不同的待测试芯片的产品定义参数；

根据所述产品定义参数生成所述多个测试定义文件；

将所述多个测试定义文件存储至目标设备；

将所述目标设备的存储器共享给测试机台，其中，所述测试机台用于对所述待测试芯片进行测试。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试机台中存储有所述第一测试文件，获取所述目标测试定义文件，包括：

通过所述测试机台从所述存储器中读取所述目标测试定义文件。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一测试文件包括测试定义文件接口，所述测试定义文件接口中定义了所述待测试芯片与所述目标测试定义文件之间的对应关系，

根据所述待测试芯片从预设的多个测试定义文件中选择目标测试定义文件，包括：

根据所述对应关系从所述多个测试定义文件中选择与所述待测试芯片对应的所述目标测试定义文件。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述测试定义文件中还包括：

待测试芯片的属性参数以及测试参数的数值范围。

6.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，被配置为根据待测试芯片获取第一测试文件，其中，所述第一测试文件为可执行文件；

选择模块，被配置为根据所述待测试芯片从预设的多个测试定义文件中选择目标测试定义文件，其中，所述测试定义文件中包括测试参数；

第二获取模块，被配置为获取所述目标测试定义文件；

结合模块，被配置为将所述第一测试文件与所述目标测试定义文件结合，得到第二测试文件；

测试模块，被配置为根据所述第二测试文件对所述待测试芯片进行测试，得到所述待测试芯片的测试结果。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第三获取模块，被配置为在根据待测试芯片获取第一测试文件之前，获取多个不同的待测试芯片的产品定义参数；

生成模块，被配置为根据所述产品定义参数生成所述多个测试定义文件；

存储模块，被配置为将所述多个测试定义文件存储至目标设备；

共享模块，被配置为将所述目标设备的存储器共享给测试机台，其中，所述测试机台用于对所述待测试芯片进行测试。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述测试机台中存储有所述第一测试文件，所述第二获取模块具体被配置为：

通过所述测试机台从所述存储器中读取所述目标测试定义文件。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一测试文件包括测试定义文件接口，

所述测试定义文件接口中定义了所述待测试芯片与所述目标测试定义文件之间的对应关系；

所述选择模块具体被配置为：

根据所述对应关系从所述多个测试定义文件中选择与所述待测试芯片对应的所述目标测试定义文件。

10.根据权利要求6至9任一项所述的装置，其特征在于，所述测试定义文件中还包括：

待测试芯片的属性参数以及测试参数的数值范围。