[发明专利]辐射检查系统在审

专利信息
申请号: 202011639188.6 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN114764069A 公开(公告)日: 2022-07-19
发明(设计)人: 陈志强;刘磊;孙尚民;宗春光;胡煜;马媛;季峥 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司;清华大学
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01V5/00
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 张文超
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 辐射 检查 系统
【权利要求书】:

1.一种辐射检查系统,其特征在于,包括:

集装箱(1),其相对的侧壁上分别设有入口(A)和出口(B);和

辐射扫描成像设备(2),设于所述集装箱(1)内且具有检查通道(G),所述辐射扫描成像设备(2)包括射线源(21),所述射线源(21)包括多个射线发生器(21’),所述多个射线发生器(21’)被配置为以不同的角度发出射线束,以使所述辐射扫描成像设备(2)对从所述入口(A)至所述出口(B)经过所述检查通道(G)的待检查物体进行辐射扫描检查。

2.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,所述多个射线发生器(21’)被配置为随着所述待检查物体的移动交替开启发出射线束。

3.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,所述辐射扫描成像设备(2)还包括一个准直器(22),设置于所述多个射线发生器(21’)的出束侧,被配置为同时限制所述多个射线发生器(21’)输出的所述射线束的射束形状。

4.根据权利要求3所述的辐射检查系统,其特征在于,

所述准直器(22)包括一个准直口(221),所述准直口(221)被配置为同时限制所述多个射线发生器(21’)输出的所述射线束的射束形状;或者

所述准直器包括两个以上准直口(221),所述多个射线发生器(21’)与所述两个以上准直口(221)一一对应地设置,每个所述准直口(221)被配置为限制对应的所述射线发生器(21’)输出的所述射线束的射束形状;或者

所述准直器包括两个以上准直口(221),所述多个射线发生器(21’)分组与所述两个以上准直口(221)对应设置,每个所述准直口(221)被配置为同时限制对应的一组所述射线发生器(21’)中各所述射线发生器(21’)输出的所述射线束的射束形状。

5.根据权利要求3所述的辐射检查系统,其特征在于,所述准直器(22)包括两块准直板(222),所述两块准直板(222)形状配合形成准直口(221),所述准直口(221)被配置为限制对应的所述射线发生器(21’)输出的所述射线束的射束形状。

6.根据权利要求3所述的辐射检查系统,其特征在于,所述准直器包括两块准直板(222),所述两块准直板(222)形状配合形成准直口(221),所述辐射扫描成像设备(2)还包括调节机构,所述调节机构被配置为通过驱动至少一块准直板(222)相对于其余准直板(222)的位置调节所述准直口(221)的尺寸或形状,并在调节后维持所述多个射线发生器(21’)输出的所述射线束的射束形状。

7.根据权利要求6所述的辐射检查系统,其特征在于,所述调节机构包括至少一个调节部(25),至少一块所述准直板(222)对应设置有所述调节部(25),所述调节部(25)被配置为通过驱动对应的所述准直板(222)平移和/或转动改变对应的所述准直板(222)相对于另一块所述准直板(222)的相对位置以调节所述准直口(221)的尺寸或形状。

8.根据权利要求7所述的辐射检查系统,其特征在于,

所述两块准直板(222)中至少之一上设置延伸方向与所述准直口(221)不同的长孔(2221);

所述辐射扫描成像设备(2)还包括射线源舱体(23),所述多个射线发生器(21’)位于所述射线源舱体(23)内;和

所述调节部(25)包括第一螺纹连接件(251),所述第一螺纹连接件(251)被配置为与所述长孔(2221)相对位置可变地配合并将所述长孔(2221)所在的准直板(222)固定于所述射线源舱体(23)上。

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