[发明专利]辐射检查系统在审
| 申请号: | 202011639188.6 | 申请日: | 2020-12-31 |
| 公开(公告)号: | CN114764069A | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
| 发明(设计)人: | 陈志强;刘磊;孙尚民;宗春光;胡煜;马媛;季峥 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
| 主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01V5/00 |
| 代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 张文超 |
| 地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 辐射 检查 系统 | ||
1.一种辐射检查系统,其特征在于,包括:
集装箱(1),其相对的侧壁上分别设有入口(A)和出口(B);和
辐射扫描成像设备(2),设于所述集装箱(1)内且具有检查通道(G),所述辐射扫描成像设备(2)包括射线源(21),所述射线源(21)包括多个射线发生器(21’),所述多个射线发生器(21’)被配置为以不同的角度发出射线束,以使所述辐射扫描成像设备(2)对从所述入口(A)至所述出口(B)经过所述检查通道(G)的待检查物体进行辐射扫描检查。
2.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,所述多个射线发生器(21’)被配置为随着所述待检查物体的移动交替开启发出射线束。
3.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,所述辐射扫描成像设备(2)还包括一个准直器(22),设置于所述多个射线发生器(21’)的出束侧,被配置为同时限制所述多个射线发生器(21’)输出的所述射线束的射束形状。
4.根据权利要求3所述的辐射检查系统,其特征在于,
所述准直器(22)包括一个准直口(221),所述准直口(221)被配置为同时限制所述多个射线发生器(21’)输出的所述射线束的射束形状;或者
所述准直器包括两个以上准直口(221),所述多个射线发生器(21’)与所述两个以上准直口(221)一一对应地设置,每个所述准直口(221)被配置为限制对应的所述射线发生器(21’)输出的所述射线束的射束形状;或者
所述准直器包括两个以上准直口(221),所述多个射线发生器(21’)分组与所述两个以上准直口(221)对应设置,每个所述准直口(221)被配置为同时限制对应的一组所述射线发生器(21’)中各所述射线发生器(21’)输出的所述射线束的射束形状。
5.根据权利要求3所述的辐射检查系统,其特征在于,所述准直器(22)包括两块准直板(222),所述两块准直板(222)形状配合形成准直口(221),所述准直口(221)被配置为限制对应的所述射线发生器(21’)输出的所述射线束的射束形状。
6.根据权利要求3所述的辐射检查系统,其特征在于,所述准直器包括两块准直板(222),所述两块准直板(222)形状配合形成准直口(221),所述辐射扫描成像设备(2)还包括调节机构,所述调节机构被配置为通过驱动至少一块准直板(222)相对于其余准直板(222)的位置调节所述准直口(221)的尺寸或形状,并在调节后维持所述多个射线发生器(21’)输出的所述射线束的射束形状。
7.根据权利要求6所述的辐射检查系统,其特征在于,所述调节机构包括至少一个调节部(25),至少一块所述准直板(222)对应设置有所述调节部(25),所述调节部(25)被配置为通过驱动对应的所述准直板(222)平移和/或转动改变对应的所述准直板(222)相对于另一块所述准直板(222)的相对位置以调节所述准直口(221)的尺寸或形状。
8.根据权利要求7所述的辐射检查系统,其特征在于,
所述两块准直板(222)中至少之一上设置延伸方向与所述准直口(221)不同的长孔(2221);
所述辐射扫描成像设备(2)还包括射线源舱体(23),所述多个射线发生器(21’)位于所述射线源舱体(23)内;和
所述调节部(25)包括第一螺纹连接件(251),所述第一螺纹连接件(251)被配置为与所述长孔(2221)相对位置可变地配合并将所述长孔(2221)所在的准直板(222)固定于所述射线源舱体(23)上。
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