[发明专利]一种基于二端测试的引脚资源分配方法及系统

说明书

本发明公开了一种基于二端测试的引脚资源分配方法及系统，利用图论的相关理论来解决多引脚的待测器件进行二端测试时的引脚资源分配问题。可以在自动化测试中减少testbench上测试引脚资源的浪费，另一方面，可以降低空间复杂度，减少对计算机内存的消耗，并减小时间复杂度，从而进一步减少测试时间。

技术领域

本发明涉及半导体设计和生产领域，特别涉及一种基于二端测试的引脚资源分配方法及系统。

背景技术

在芯片测试中，常采用的是二端测试，即只需要将DUT（待测器件）中的两个pin（引脚）进行导通，测试得到相关结果的方法。在实际的测试操作中，需要将DUT上用于两端测试连接的一对引脚连接到外部testbench（测试台）的一对逻辑地址相邻的测试引脚上。图1为一个多引脚的待测器件的电路测试引脚分配示例，Z1、Z2、Z3为分别需要进行两端测试的具体元件，其两端端口分别为A和B、A和C、C和D，Z1、Z2、Z3组成一个DUT，即A、B、C、D为该DUT进行二端测试时需要进行分配的引脚。因此，该DUT总共可以定义三组待分配的引脚连接组PinConnection，分别为：{A；B}、{A；C}、{C；D}。因该DUT待分配的引脚数量较少，通过穷举即可获得该DUT进行二端测试时的最优引脚分配方式，即如图1所示的引脚分配方式{A；B}、{A；C}、{C；D}，该种引脚分配方式使DUT只需占用testbench上4个测试引脚。

但是，随着引脚分配场景的复杂度提升，以及应用场景对引脚资源分配的时间要求和引脚分配算法的精度要求，提供一种高效精确的基于二端测试的待测器件引脚资源分配可行算法，用以高效地利用testbench上的测试引脚，是一个关键性的问题。

因此，有必要提供一种高效精确的基于二端测试的待测器件引脚资源分配可行算法。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的不足，本发明的目的在于：提供一种利用图论的相关理论来解决多引脚的待测器件进行二端测试时的引脚资源分配方法及其系统。

为实现上述发明目的，本发明提供以下技术方案：

本发明涉及一种基于二端测试的引脚资源分配方法，包括：

获取待测器件上所有待分配的引脚连接组，每个待分配的引脚连接组包括两个引脚集合，分配时从这两个引脚集合中各确定一个引脚用于连接到测试引脚，完成所有引脚连接组的分配后，得到该待测器件的引脚分配方式；根据引脚连接组中不同的引脚分配，得到若干种引脚分配方式；

根据所述引脚分配方式建立邻接图，邻接图中的结点对应待测器件的引脚，邻接图中的边代表引脚关系，即某条边的两个结点对应一个引脚连接组中的两个引脚；并利用邻接图计算每个引脚分配方式的资源数，所述资源数是指该引脚分配方式所需占用测试引脚的数量；

资源数最小的引脚分配方式，即为该待测器件进行二端测试时的最优引脚分配方式。

在本发明中，所述利用邻接图计算每个引脚分配方式的资源数是指：计算邻接图被完整画出所需的最少笔画数，再将该最少笔画数与引脚连接组的数量相加，得到的值即为该引脚分配方式的资源数；其中，邻接图被完整画出所需的最少笔画数S为：S=；所述K是邻接图中所包含的连通图个数，所述S_k是第k个连通图被完整画出所需的最少笔画数。

在本发明中，所述引脚连接组为无向引脚连接组（2 pin connection），无向引脚连接组中分配的两个引脚对于要连接的测试引脚的逻辑地址没有前后顺序要求；分配无向引脚连接组形成的引脚分配方式所构建的邻接图为无向邻接图；当邻接图为无向邻接图时，S_k的计算方式为：遍历第k个连通图中所有结点，得到该连通图中奇度结点的个数N，则：1）N为0或者2，则S_k=1；2）N2（N必然为偶数），则S_k=N/2。