[发明专利]一种射频集成电路近场电磁兼容性测试管理方法和系统

说明书

本发明属于管理领域，针对现有技术中近场测试射频集成电路的电磁兼容新中的对外电磁干扰强度后，难以判断所测结果是否属于正常范围内的问题，提出一种射频集成电路经常电磁兼容性测试管理方法和系统；方法包括：获取目标集成电路的标准电磁分布信息；根据标准电磁分布信息，调整目标射频集成电路对应的探头和示波器的测试精度；采集示波器上的信号图像信息，并处理为当前电磁分布信息；计算标准电磁分布信息与当前电磁分布信息的相关值，在相关值低于预设值时，发出告警信息。

技术领域

本发明属于管理领域，具体涉及一种射频集成电路近场电磁兼容性测试管理方法和系统。

背景技术

射频集成电路由于工作频率较高，在工作时会对外产生电磁干扰，同时也会受到相同环境下其他电磁干扰的影响。射频集成电路的电磁兼容性，即是用来评估射频集成电路在其电磁环境中符合要求运行，并且产生的电磁干扰不对其环境中任何电子设备、电路产生干扰的能力。

关于集成电路的电磁兼容性测试，国际电工委员推荐采用IEC 61967《集成电路电磁发射测试》和IEC 62132《集成电路电磁敏感性测试》标准。IEC 61967对集成电路的辐射发射采用TEM/GTEM小室方法和近场扫描方法，传导发射采用1Ω/150Ω直接耦合方法、法拉第笼方法和磁场探头方法。IEC 62132对集成电路的辐射敏感性采用TEM小室测试方法、大电流注入的IC电磁敏感性测试方法以及直接RF功率注入和法拉第笼的IC传导敏感性测试方法。

在对射频集成电路记性进场电磁兼容性测试时，由于射频集成电路的功率和面积较小，其电磁敏感性所受的电磁干扰主要集中在近场区域，对射频集成电路对外产生的电磁干扰进行测试后，难以滞销该测试结果是否失真。

发明内容

本发明提供一种射频集成电路经常电磁兼容性测试管理方法和系统，用于解决现有技术中近场测试射频集成电路的电磁兼容新中的对外电磁干扰强度后，难以判断所测结果是否属于正常范围内的问题。

本发明提供的基础方案为：一种射频集成电路近场电磁兼容性测试管理方法，包括：

获取目标集成电路的标准电磁分布信息；

根据标准电磁分布信息，调整目标射频集成电路对应的探头和示波器的测试精度；

采集示波器上的信号图像信息，并处理为当前电磁分布信息；

计算标准电磁分布信息与当前电磁分布信息的相关值，在相关值低于预设值时，发出告警信息。

原理和有益效果：本方案将测试所得的电磁分布称为当前电磁分布信息，利用标准电磁分布信息来衡量当前电磁分布信息是失真，即，若相关值超过预设值，则说明当前电磁分布信息与预设出来的标准电磁分布信息相似度过低，可能存在测试失真的问题。

进一步，所述方法还包括：测试探头到目标射频集成电路上预设标志的距离，并显示。

进一步，所述标准电磁分布信息的获取，具体包括：

获取目标集成电路的电路图和电子元器件分布信息；

筛选出电路图中的各个电子元器件和对应的环境信息，并获取电子元器件的电磁分布模型，计算环境信息下电子元器件的单个电磁分布信息；

根据所述电子元器件分布信息，依次叠加电子元器件对应的单个电磁分布信息，计算出所述目标集成电路的标准电磁分布信息。

进一步，所述采集示波器上的信号变化图像，并处理为当前电磁分布信息，具体包括：

获取同一时刻目标射频集成电路到到探头之间的距离信息，与探头连接的示波器所显示的信号图像信息；将当前时刻信息、距离信息、信号图像信息相互关联；

模糊总结出，同一时刻，距离信息与信号图像信息之间的关系，得到同一时刻电磁第一分布信息；