[发明专利]一种ATE设备中SCAN向量的压缩方法和设备

说明书

本发明提出一种ATE设备中SCAN向量的压缩方法和设备，包括：步骤1、以指定大小为单位遍历当前最新的SCAN向量集中的所有向量，以将SCAN向量集分为多个指定大小的向量子集；步骤2、将相同的向量子集分为同一类别，并确定各类别下向量子集的数量；步骤3、按照数量从多到少对类别进行排序，并确定排序最前的预设数量个类别；步骤4、将确定的类别的向量子集从SCAN向量集中剔除，以更新SCAN向量集；步骤5、建立确定的类别与编码数据之间的映射关系，以基于映射关系，将类别下的向量子集替换为编码数据；编码数据小于向量子集的数据大小；步骤6、更换遍历大小重复执行步骤1‑5，以完成压缩。通过建立向量子集与编码数据之间的映射关系来进行压缩。

技术领域

本发明涉及在ATE设备中针对SCAN向量压缩技术领域，特别涉及一种 ATE设备中SCAN向量的压缩方法和设备。

背景技术

ATE(Automatic Test Equipment，自动测试设备)是一种通过计算机 和专用设备对集成电路进行自动化测试的系统。ATE用于检测集成电路功能 和性能的完整性，是集成电路生产制造流程中确保集成电路品质的重要设 备。

ATE的测试信号是由测试时序和测试向量合成的，测试时序定义了被测 器件的信号周期(T)和测试波形(Wave)以及每个测试波形相对应的边沿 (Edge)时刻点。测试向量是控制测试机产生被测芯片所需的信号波形以 及判断测试芯片响应是否正确的代码合集,SCAN向量是数字集成电路测试 中最常见的测试向量。随着集成电路的不断发展，集成电路的集成规模和 复杂度正在不断增加，使得集成电路的测试复杂度也不断增加，从而使得测试集成电路所需的SCAN向量不断增大。这不仅使得SCAN向量加载时间 不断增大、同时对SCAN向量的存储空间的需求也不断增加，不仅给自动测 试设备本身带来极大的挑战，也使得集成电路测试的效率不断降低、成本 不断增高。

由此，目前需要有一种方案来解决现有技术中的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提出了一种ATE设备中SCAN向量的压缩方法和设备。 本方案中通过将SCAN向量转换为较小的编码数据，实现了SCAN向量的数 据压缩，减小了SCAN向量的数据量以及数据存储空间。

具体的，本发明提出了一种ATE设备中SCAN向量的压缩方法，包括：

步骤1、以指定大小为单位遍历当前最新的SCAN向量集中的所有向 量，以将SCAN向量集分为多个指定大小的向量子集；

步骤2、将相同的所述向量子集分为同一类别，并确定各类别下所述 向量子集的数量；

步骤3、按照数量从多到少对所述类别进行排序，并确定排序最前的 预设数量个所述类别；

步骤4、将确定的所述类别的所述向量子集从所述SCAN向量集中剔 除，以更新所述SCAN向量集；

步骤5、建立确定的所述类别与编码数据之间的映射关系，以基于所 述映射关系，将所述类别下的所述向量子集替换为所述编码数据；所述编 码数据小于所述向量子集的数据大小；

步骤6、重复执行步骤1-5，以完成压缩；其中，重复的次数越多， 所述指定大小越小。

在一个具体的实施例中，所述编码数据为二进制数据。

在一个具体的实施例中，所述编码数据由类型码与字典码组成；其中， 所述类型码用于标识所述向量子集对应的所述类别；所述字典码用于标识 同一所述类型码下不同的所述向量子集。

在一个具体的实施例中，所述预设数量等于或小于2^K；其中，K为所 述字典码的比特数。

在一个具体的实施例中，所述类型码的大小为3比特；所述字典码的 大小为6比特；所述预设数量小于等于64。