[发明专利]可监测磨损量的机械密封装置在审

专利信息
申请号: 202011629974.8 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN112664654A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 黄伟峰;尹源;刘向锋;刘莹;李德才;王玉明 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: F16J15/34 分类号: F16J15/34
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 杜萌
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 监测 磨损 机械 密封 装置
【权利要求书】:

1.一种可监测磨损量的机械密封装置,其特征在于,包括:

动环,能够套设于转轴,所述动环随转轴进行同步转动;

静环,与所述动环相邻设置,所述静环具有朝向所述动环的测量端面,或者所述动环具有朝向所述静环的测量端面,所述测量端面开设测量凹槽,所述测量凹槽的开设位置靠近所述静环或者所述动环的周缘,所述测量凹槽的回转截面所对应的中心角在相异深度处不完全相同;

监测器,设置于所述静环或者所述动环,所述监测器用于监测所述静环与所述动环形成的摩擦副产生的声发射信号。

2.根据权利要求1所述的可监测磨损量的机械密封装置,其特征在于,所述测量凹槽的回转截面所对应的中心角随深度的变化逐渐改变;所述测量凹槽的回转截面所对应的中心角随深度的变化逐渐变大或者逐渐变小。

3.根据权利要求2所述的可监测磨损量的机械密封装置,其特征在于,所述测量凹槽沿自身深度方向的截面呈三角形,梯形、至少部分圆弧形和/或折线形。

4.根据权利要求1-3任一项所述的可监测磨损量的机械密封装置,其特征在于,所述测量端面上开设至少两个所述测量凹槽,至少两个所述测量凹槽沿所述静环的周缘间隔分布。

5.根据权利要求4所述的可监测磨损量的机械密封装置,其特征在于,至少两个所述测量凹槽沿所述静环或所述动环的外周缘间隔分布,和/或至少两个所述测量凹槽沿所述静环或所述动环的内周缘间隔分布。

6.根据权利要求5所述的可监测磨损量的机械密封装置,其特征在于,所述测量端面上开设三十八个所述测量凹槽;六个所述测量凹槽沿所述静环的内周缘间隔分布,三十二个所述测量凹槽沿所述静环的外周缘间隔分布。

7.根据权利要求4所述的可监测磨损量的机械密封装置,其特征在于,至少两个所述测量凹槽沿所述静环的周缘等间隔分布。

8.根据权利要求1-3任一项所述的可监测磨损量的机械密封装置,其特征在于,所述静环具有朝向所述动环的测量端面,所述测量凹槽的开设位置靠近所述静环的周缘;所述监测器设置于所述静环。

9.根据权利要求8所述的可监测磨损量的机械密封装置,其特征在于,所述动环具有朝向所述静环的密封端面,所述密封端面上开设多个T形槽或者弧形槽,多个所述T形槽或者所述弧形槽沿所述动环的回转方向均匀间隔分布。

10.根据权利要求1-3任一项所述的可监测磨损量的机械密封装置,其特征在于,还包括:

基体;

转轴,转动设置于所述基体,所述动环套设于所述转轴,所述动环随所述转轴进行同步转动;

静环座,固定设置于所述基体,所述静环设置于所述静环座;

推环和弹簧,所述静环、所述推环、所述弹簧以及所述静环座沿所述转轴的轴向依次设置,所述静环座通过所述弹簧以及所述推环浮动支承所述静环。

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