[发明专利]校准方法、装置及对应的延迟电路

说明书

本发明公开一种校准方法、装置及对应的延迟电路，所述方法用于对连接至存储器的控制器进行时序校准，所述方法包括：基于预设的周期校准参数，对所述控制器的时钟信号进行周期校准，使得所述控制器对所述存储器的读数据进行采样的采样点位于所述读数据的数据段；以及基于预设的粗校准参数，对所述控制器的时钟信号进行粗校准，使得所述采样点位于所述数据段中单个数据宽度内。本发明使得控制器可快速、且准确地确定可以采样到存储器的读数据的采样点。

技术领域

本发明涉及存储器技术领域，具体涉及一种校准方法及装置。

背景技术

当存储器连接至控制器，为了确保控制器可以正常访问存储器，需要对控制器的时钟信号进行校准，否则所述存储器则无法接收到所述控制器发送的正确的数据，所述控制器也无法从所述存储器读取到正确的数据。请参阅图1，存储器输出读数据(DQ信号)的时间校准由参数tWCK2CK和tWCK2DQO来决定，tWCK2CK和tWCK2DQO是GDDR6说明书上定义的两个参数，其中，tWCK2CK表示控制器的时钟信号WCK和存储器的时钟信号CK的偏差，tWCK2DQO表示控制器的时钟信号WCK到DQ输出的延迟，这个时间是一个纳秒级的延迟，对这个量级的延迟进行校准，比较耗时。

发明内容

本发明的目的是提供一种校准方法及装置，可快速、且准确地确定可以采样到存储器的读数据的采样点。

本发明实施例提供了以下方案：

第一方面，本发明实施例提供一种校准方法，用于对连接至存储器的控制器进行时序校准，所述方法包括：

基于预设的周期校准参数，对所述控制器的时钟信号进行周期校准，使得所述控制器对所述存储器的读数据进行采样的采样点位于所述读数据的数据段；以及

基于预设的粗校准参数，对所述控制器的时钟信号进行粗校准，使得所述采样点位于所述数据段中单个数据宽度内。

第二方面，本发明实施例提供一种校准装置，用于对连接至存储器的控制器进行时序校准，所述装置包括：

第一校准模块，用于基于预设的周期校准参数，对所述控制器的时钟信号进行周期校准，使得对所述存储器的读数据进行采样的采样点位于所述读数据的数据段；以及

第二校准模块，用于基于预设的粗校准参数，对所述控制器的时钟信号进行粗校准，使得所述采样点位于所述数据段中单个数据宽度内。

第三方面，本发明实施例提供一种校准设备，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序以实现上述的方法的步骤。

第四方面，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时以实现上述的方法的步骤。

本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：

本发明实施例校准方法通过采用不同精度的校准步骤(例如，周期校准、粗校准、细校准)对存储器的时序进行校准，可快速、且准确地确定可以采样到存储器的读数据的采样点。

附图说明

为了更清楚地说明本说明书实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有技术中存储器输出读数据的时序图。

图2是本发明实施例提供的一种校准方法的流程图。

图3是本发明实施例提供的一种计数电路的电路图。