[发明专利]一种高速ADDA自动化测试平台

说明书

本发明提供一种高速ADDA自动化测试平台，涉及自动化测试技术领域。该ADC/DAC芯片各技术指标的高速测试方法包括上位机软件，所述上位机软件的输入端固定设有交换板，所述交换板的连接端固定设有待测板卡，所述交换板的输出端固定设有交换机，所述交换机的输出端固定设有频谱仪。该ADC/DAC芯片各技术指标的高速测试方法通过执行程序代码，使ADDA测试平台自动化运作，得到ADDA各指标测试结果，自行判断是否合格，并生成测试报告，通过自动化测试替代了测试人员手动测试的工作量，大大提高了测试的速度和效率。

技术领域

本发明涉及自动化测试技术领域，具体为一种高速ADDA自动化测试平台。

背景技术

数字信号处理在各个领域都有着非常广泛的应用，而ADC、DAC芯片作为模拟电路和数字电路沟通的渠道，其性能指标在整个信号处理系统中起着十分关键的作用。目前采用的ADC、DAC芯片指标测试方法如下：ADC指标测试：

测试环境需求：信号源、ADC测试程序、vivado/ISE软件(或其他上位机软件)、ADC采集数据的分析软件、ADDA硬件板卡，测试过程：测试人员通过vivado/ISE软件(或其他上位机软件)将ADC测试程序加载到硬件板卡的FPGA中，并使用信号源为ADC芯片提供指定频率和功率的模拟信号。接下来，测试人员通过ADC测试程序控制ADC芯片，将模拟信号转化为数字信号，并将采集的数字信号保存为数据文件。最后，通过数据分析软件，对保存的数据文件进行分析，得出ADC芯片的各项指标，判断是否合格，并撰写测试报告；DAC指标测试；测试环境需求：频谱仪、DAC测试程序、vivado/ISE软件(或其他上位机软件)、ADDA硬件板卡，测试过程：测试人员通过vivado/ISE软件(或其他上位机软件)将DAC测试程序加载到硬件板卡的FPGA中。接下来，测试人员通过DAC测试程序控制DAC芯片，将数字信号转化为模拟信号，并将模拟信号输出到频谱仪。最后，通过操作频谱仪，对输出信号进行分析，得出DAC芯片的各项指标，判断是否合格，并撰写测试报告。

现有技术的缺点：测试效率低、工作量大、耗时久。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种高速ADDA自动化测试平台，以解决上述背景技术中提出的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种高速ADDA自动化测试平台，包括上位机软件，所述上位机软件的输入端固定设有交换板，所述交换板的连接端固定设有待测板卡，所述交换板的输出端固定设有交换机，所述交换机的输出端固定设有频谱仪，所述频谱仪的输入端与待测板卡相连接，所述交换机的输出端固定设有信号源，所述信号源的输入端与待测板卡相连接。

优选的，本发明中的包括高AD/DA自动化测试系统，所述高AD/DA自动化测试系统包括信号源控制、频谱仪控制、文档撰写、指标计算、人工操作界面和自动化测试流程控制。

优选的，所述信号源控制由于信号源控制部分的功能是通过程序控制信号源输出信号的开或关，并控制输出信号的功率和频率。此部分的目的是为了在测试ADC芯片指标时，为ADC芯片输入必要的模拟信号。

优选的，所述频谱仪控制频谱仪控制部分的功能是通过程序控制频谱仪进行校准工作，控制频谱仪自动设置测试带宽、RBW、VBW、RefLevel等测试参数，控制频谱仪进行谐波和杂散测试等工作。此部分的目的是为了在测试DAC芯片各项指标时，用频谱仪接收DAC输出的信号，得到各项指标数据，并反馈给程序。

优选的，所述文档撰写部分是在得到ADC/DAC各项指标之后，控制WORD进行测试报告的自动撰写工作，判断测试结果是否合格并生成相关的测试表格。此外，文档撰写中还包括.csv临时数据文件的生成工作。