[发明专利]一种电源芯片的测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种电源芯片的测试系统及方法，所述系统包括：被测芯片负载板，分别与被测电源芯片和被测芯片接口相连接，用于承载所述被测电源芯片，实现所述被测电源芯片和被测芯片接口之间的连接；控制板，分别与被测芯片接口和至少一个资源接口相连接，用于实现被测芯片和测试资源的电连接；测试资源，分别与所述资源接口和上位机相连接，用于根据上位机发送的控制指令输出相应的资源信号至被测电源芯片；上位机，用于通过调用测试资源的驱动程序发送控制指令至测试资源；用于获取被测芯片输出的响应信息，并基于所述响应信息确定被测电源芯片的测试结果。本发明能够实现不同的测试场景下任意切换，提高了设备的可复用性，提高了生产效率。

技术领域

本发明涉及电源芯片测试技术领域，并且更具体地，涉及一种电源芯片的测试系统及方法。

背景技术

在集成电路的测试中，为了保证电源芯片的稳定性，往往会对电源芯片的各项工作参数进行测试。

现有的电源测试方案主要应用于解决大功率开关电源在生产线上的量产测试，针对电源芯片的测试，其成套系统的造价非常昂贵，且软硬件配置过剩。因此，在对电源芯片进行测试时，不得不采用人工测试的方法，一边调整输入电压与负载大小，一边记录输入电流与输出电压，工作量巨大。而且，人工测试难免出现部分数据记录有误的情况，对后续数据分析工作造成了影响。同时，现有的电源芯片测试系统智能对单一型号的电源芯片进行测试，如法实现测试系统的通用性。

因此，需要一种能够对不同类型的电源新芯片进行测试的系统。

发明内容

本发明提出一种电源芯片的测试系统及方法，以解决如何对不同类型的电源芯片进行测试的问题。

为了解决上述问题，根据本发明的一个方面，提供了一种电源芯片的测试系统，所述系统包括：

被测芯片负载板，分别与被测电源芯片和被测芯片接口相连接，用于承载所述被测电源芯片，实现所述被测电源芯片和被测芯片接口之间的连接；

控制板，分别与被测芯片接口和至少一个资源接口相连接，用于实现被测芯片和测试资源的电连接；

测试资源，分别与所述资源接口和上位机相连接，用于根据上位机发送的控制指令输出相应的资源信号至被测电源芯片；

上位机，用于通过调用测试资源的驱动程序发送控制指令至测试资源；用于获取被测芯片输出的响应信息，并基于所述响应信息确定被测电源芯片的测试结果。

优选地，其中所述测试资源包括以下至少一种外部仪表：电源、信号发生器、电子负载和万用表；

所述资源接口包括以下至少一种接口：电源接口、信号发生器接口、电子负载接口和万用表接口。

优选地，其中当所述测试资源为电源时，上位机的驱动接口包括：设置电压函数、设置电流函数、输出开关函数、读取电压函数和读取电流函数；

当所述测试资源为信号发生器时，上位机的驱动接口包括：设置波形类型函数、设置波形电平函数、设置波形频率函数和设置通道开关函数；

当所述测试资源为电子负载时，上位机的驱动接口包括：设置负载类型函数、设置负载参数函数、通道开关函数、读取电流函数和读取电压函数；

当所述测试资源为万用表时，上位机的驱动接口包括：读取电压函数和读取电流函数。

优选地，其中所述被测芯片负载板根据被测电源芯片的型号确定，不同的被测芯片负载板使用不同封装的测量夹具。

根据本发明的另一个方面，提供了一种基于电源芯片的测试系统的电源芯片测试方法，所述系统包括：依次连接的被测芯片负载板、被测芯片接口、控制板、资源接口、测试资源和上位机，被测电源芯片置于所述被测芯片负载板上；所述方法包括：