[发明专利]一种设备容量配置方法、装置、终端设备及存储介质

说明书

本申请适用于存储技术领域，提供了一种设备容量配置方法、装置、终端设备及存储介质。本申请实施例中对分布在至少一对存储平面上的存储块进行检测，确定分布结果；根据所述分布结果确定所述至少一对存储平面上的坏块位置；根据所述至少一对存储平面上的坏块位置确定所述至少一对存储平面的相对存储平面上的存储块的状态；根据所述相对存储平面上的存储块的状态以预设规则将相对存储平面上的存储块进行重新配对。从而提高了存储产品的量产良率。

技术领域

本申请属于存储技术领域，尤其涉及一种设备容量配置方法、装置、终端设备及存储介质。

背景技术

随着社会的发展，存储产品在人们的生活中越来越常见，例如Nand-Flash存储器，出厂后的Nand-Flash存储器中一般会存在坏块，而当Nand-Flash存储器中的出厂坏块超过一定比例的时候，该Nand-Flash存储器将会下降一个容量等级，又或者是只能将该存储器作为不良品进行使用，从而因为坏块的存在，致使存储产品的量产良率较低。

发明内容

本申请实施例提供了一种设备容量配置方法、装置、终端设备及存储介质，可以解决存储产品的量产良率较低的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种设备容量配置方法，包括：

对分布在至少一对存储平面上的存储块进行检测，确定分布结果；

根据所述分布结果确定所述至少一对存储平面上的坏块位置；

根据所述至少一对存储平面上的坏块位置确定所述至少一对存储平面的相对存储平面上的存储块的状态；

根据所述相对存储平面上的存储块的状态以预设规则将相对存储平面上的存储块进行重新配对。

可选的，所述根据所述分布结果确定所述至少一对存储平面上的坏块位置，包括：

根据所述分布结果构建初始映射表；

从所述初始映射表中确定所述至少一对存储平面上的坏块位置。

可选的，所述根据所述至少一对存储平面上的坏块位置确定所述至少一对存储平面的相对存储平面上的存储块的状态，包括：

根据第一存储平面上的坏块位置从所述分布结果中确定第二存储平面的相对位置上的存储块的状态；

根据所述第二存储平面上的坏块位置从所述分布结果中确定所述第一存储平面的相对位置上的存储块的状态。

可选的，所述根据所述相对存储平面上的存储块的状态以预设规则将相对存储平面上的存储块进行重新配对，包括：

当所述第一存储平面的相对位置上的存储块的状态和所述第二存储平面的相对位置上的存储块的状态均为正常状态时，将所述第一存储平面的相对位置上的存储块和所述第二存储平面的相对位置上的存储块以预设规则进行配对。

可选的，所述对分布在至少一对存储平面上的存储块进行检测，确定分布结果，包括：

检测所述至少一对存储平面上的存储块的标识信息；

根据所述标识信息确定所述存储块的检测结果；

以预设顺序对所述检测结果进行排列，确定分布结果。

可选的，在根据所述相对存储平面上的存储块的状态以预设规则将相对存储平面上的存储块进行重新配对之后，包括：

根据重新配对的存储块的配对状态构建配对表；

当接收到使用请求时，根据所述配对表控制重新配对的存储块进行对应操作。

第二方面，本申请实施例提供了一种设备容量配置装置，包括：