[发明专利]温度控制方法与数据存储系统在审
| 申请号: | 202011597774.9 | 申请日: | 2020-12-29 |
| 公开(公告)号: | CN114690866A | 公开(公告)日: | 2022-07-01 |
| 发明(设计)人: | 黄意中;傅子瑜 | 申请(专利权)人: | 宏碁股份有限公司 |
| 主分类号: | G06F1/20 | 分类号: | G06F1/20;G06F11/30 |
| 代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 张娜;臧建明 |
| 地址: | 中国台湾新北市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 温度 控制 方法 数据 存储系统 | ||
本发明提供一种温度控制方法与数据存储系统。所述方法包括:检测存储器装置是否处于忙碌状态;检测所述存储器装置的温度是否高于第一门槛值;响应于所述存储器装置处于所述忙碌状态且所述存储器装置的所述温度高于所述第一门槛值,指示所述存储器装置执行降温程序;以及响应于所述存储器装置不处于所述忙碌状态且所述存储器装置的所述温度低于第二门槛值,指示所述存储器装置结束所述降温程序。因此,可提高对于存储器装置的温度控制能力。
技术领域
本发明涉及一种温度控制技术,且尤其涉及一种温度控制方法与数据存储系统。
背景技术
一般来说,存储器装置或其他类型的电子装置普遍都内建有温度控制机制。当装置内部的温度过高时,此温度控制机制就可被启动以进行降温。然而,大部分的电子装置所采用的温度控制机制都是根据厂商评估的温度变化曲线所预先设定的。以存储器装置为例,当温度高于默认的门槛值时,存储器装置一般可采用默认的降温手段(例如降低数据存取效能)来进行降温。但是,实际在存储器装置与主机系统的配合操作中,当存储器装置处于忙碌状态时,即便存储器装置的温度暂时下降,但一旦停止降温程序则存储器装置的温度可能会马上又飙高。反复的启动与停止降温程序除了容易造成存储器装置的存取效能不稳定外,也可能导致存储器装置降温不及而造成装置损坏。
发明内容
本发明提供一种温度控制方法与数据存储系统,可提高对于存储器装置的温度控制能力。
本发明的实施例提供一种温度控制方法,其用于控制存储器装置的温度,所述温度控制方法包括:检测所述存储器装置是否处于忙碌状态;检测所述存储器装置的所述温度是否高于第一门槛值;响应于所述存储器装置处于所述忙碌状态且所述存储器装置的所述温度高于所述第一门槛值,指示所述存储器装置执行降温程序;以及响应于所述存储器装置不处于所述忙碌状态且所述存储器装置的所述温度低于第二门槛值,指示所述存储器装置结束所述降温程序。
本发明的实施例另提供一种数据存储系统,其包括主机系统与存储器装置。所述存储器装置连接至所述主机系统。所述主机系统用以检测所述存储器装置是否处于忙碌状态。所述主机系统更用以检测所述存储器装置的温度是否高于第一门槛值。所述主机系统更用以响应于所述存储器装置处于所述忙碌状态且所述存储器装置的所述温度高于所述第一门槛值,指示所述存储器装置执行降温程序。所述主机系统更用以响应于所述存储器装置不处于所述忙碌状态且所述存储器装置的所述温度低于第二门槛值,指示所述存储器装置结束所述降温程序。
基于上述,本发明可根据存储器装置是否处于忙碌状态以及存储器装置的温度是否高于第一门槛值(或低于第二门槛值)来作为是否启动(或停止)降温程序的双重验证。藉此,可有效提高对于存储器装置的温度控制能力。
附图说明
图1是根据本发明的实施例所示出的数据存储系统的示意图;
图2是根据本发明的实施例所示出的计数值与存储器装置的累积忙碌时间之间的对应的示意图;
图3是根据本发明的实施例所示出的第一计数值与第二计数值在时间上的相关关系的示意图;
图4是根据本发明的实施例所示出的温度控制方法的流程图。
具体实施方式
现将详细地参考本发明的示范性实施例,示范性实施例的实例说明于附图中。只要有可能,相同元件符号在附图和描述中用来表示相同或相似部分。
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