[发明专利]一种电子器件用氮化镓单晶材料的快速抛光方法在审
申请号: | 202011589059.0 | 申请日: | 2020-12-29 |
公开(公告)号: | CN112757150A | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 张子卿 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | B24B37/00 | 分类号: | B24B37/00;B24B37/10;B24B37/30;B24B37/34 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 许洁 |
地址: | 226000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电子器件 氮化 镓单晶 材料 快速 抛光 方法 | ||
1.一种电子器件用氮化镓单晶材料的快速抛光方法,其特征在于:包括下述步骤:
步骤(1)生长的氮化镓单晶片从异质衬底上剥离下来,经过清洗处理,在晶片固定模具的晶片固定槽中放入适量粘接剂,将晶片固定模具放在加热台上进行加热,待粘接剂熔化,放入氮化镓单晶片,使得氮化镓单晶片下侧不平整区域完全浸入粘接剂中;
步骤(2)用夹具将步骤(1)中的含有氮化镓单晶片的晶片固定模具从加热台取下,放到定向仪样品台对氮化镓单晶片进行定向,确定研磨面的正法线方向,在粘接剂未完全冷却凝固之前,微调氮化镓单晶片取向,确保其研磨面水平;
步骤(3)待粘接剂完全冷却固化,将晶片固定模具放到研磨盘上,晶片固定模具背面槽中加上适当金属压块,进行晶片研磨抛光,待氮化镓单晶片表面完全研磨抛光平整,完成第一面的机械抛光。
2.如权利要求1所述的电子器件用氮化镓单晶材料的快速抛光方法,其特征在于:所述步骤(1)中,所述氮化镓单晶片的制备方法包括但不限于氢化物气相外延方法;所述异质衬底包括但不限于碳化硅、氧化铝、氧化锌、硅等材料。
3.如权利要求1所述的电子器件用氮化镓单晶材料的快速抛光方法,其特征在于:所述步骤(1)中,所述晶片固定模具材质包括但不限于金属、陶瓷、硬质聚酯材料;所述晶片固定模具上部开有圆柱形凹槽,所述凹槽直径稍大于氮化镓单晶直径,所述凹槽深度1mm-10mm。
4.如权利要求1所述的电子器件用氮化镓单晶材料的快速抛光方法,其特征在于:所述步骤(1)中,所述粘接剂包括但不限于石蜡等;所述晶片固定模具背部同样开有圆柱形凹槽,所述凹槽直径稍大于研磨设备配件金属压块直径,所述凹槽深度3mm-10mm。
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