[发明专利]基于变换域分析的信道设计在审
申请号: | 202011579852.2 | 申请日: | 2020-12-28 |
公开(公告)号: | CN113055010A | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | M·F·厄顿 | 申请(专利权)人: | 希捷科技有限公司 |
主分类号: | H03M1/12 | 分类号: | H03M1/12 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 何焜;陈依心 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 变换 分析 信道 设计 | ||
1.一种装置,包括:
模数转换器(ADC),所述ADC被配置为将模拟信号转换为数字采样序列;
电路,所述电路被配置为对所述数字采样序列执行变换域分析,所述电路包括:
第一变换域分析滤波器,所述第一变换域分析滤波器被配置为将变换分析信号应用于接收到的采样序列,以产生具有比所述接收到的采样序列更高的信噪比(SNR)的第一变换采样序列;
第一检测器,所述第一检测器被配置为检测来自所述第一变换采样序列的比特序列变换域表示;以及
第二检测器,所述第二检测器被配置为基于所述数字采样序列和所述比特序列变换域表示来确定与所述模拟信号相对应的用户比特的序列。
2.如权利要求1所述的装置,进一步包括:
所述电路进一步包括:
第二变换域分析滤波器,所述第二变换域分析滤波器被配置为:
将所述变换分析信号应用于所述数字采样序列,以产生具有比所述数字采样序列更高的信噪比的第二变换采样序列;
将所述第二变换采样序列提供给(1)所述第一变换域分析滤波器作为所述接收到的采样序列,以及(2)第三检测器;
所述第三检测器,被配置为:
接收来自所述第一检测器的所述比特序列和来自所述第二变换域分析滤波器的所述第二变换采样序列;
基于(1)所述第二变换采样序列和(2)来自所述第一检测器的所述比特序列变换域表示来检测第二比特序列变换域表示;以及
所述第二检测器进一步被配置为基于所述数字采样序列和第二比特序列来确定所述用户比特的序列。
3.如权利要求1所述的装置,进一步包括:
所述电路进一步包括:
第一均衡器,所述第一均衡器用于将所述第一变换采样序列均衡到第一目标响应,以产生经均衡的第一变换采样序列;以及
所述第一检测器被配置为基于所述经均衡的第一变换采样序列检测所述比特序列变换域表示。
4.如权利要求3所述的装置,进一步包括:
第二均衡器,所述第二均衡器被配置为将所述数字采样序列均衡到第二目标响应,以产生经均衡的数字采样序列;以及
所述第二检测器被配置为基于所述经均衡的数字采样序列和所述比特序列来确定所述用户比特的序列。
5.如权利要求4所述的装置,进一步包括:
所述电路进一步包括:
第一下采样器电路,所述第一下采样器电路被配置为从所述第一变换采样序列中每隔一个比特移除一个比特,使得所述第一变换采样序列包括所述接收到的采样序列的样本的一半;
所述第一均衡器被配置为将经下采样的第一变换采样序列均衡到所述第一目标响应;并且
所述第一检测器被配置为基于所述经均衡的经下采样的第一变换采样序列来检测所述比特序列变换域表示。
6.如权利要求5所述的装置,进一步包括:
所述电路进一步包括:
第二下采样器电路,所述第二下采样器电路被配置为从所述第二变换采样序列中每隔一个比特移除一个比特,使得所述第二变换采样序列包括所述数字采样序列的样本的一半;
第三均衡器,所述第三均衡器用于将经下采样的第二变换采样序列均衡到第三目标响应;以及
第三检测器,所述第三检测器被配置为基于经均衡的经下采样的第二变换采样序列检测所述第二比特序列变换域表示。
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