[发明专利]一种基于磨损状态的NAND控制方法、装置及设备

说明书

本发明公开了一种基于磨损状态的NAND控制方法、装置、设备及计算机可读存储介质，基于固态硬盘控制器对固态硬盘的NAND磨损状态进行监控，得到NAND磨损状态监控结果；在固态硬盘处于返修阶段时，利用当前时刻的NAND磨损状态监控结果来更新固态硬盘的NAND控制参数，从而无需维修人员对固态硬盘的NAND磨损情况进行检测，减少了人工维修任务量，提高了固态硬盘维修效率，且能够保证固态硬盘返修后对返修前NAND磨损状态的继承性，利用与固态硬盘的实际NAND磨损情况对应的NAND控制参数对固态硬盘的NAND颗粒进行控制，保证了返修后固态硬盘的质量和寿命。

技术领域

本发明涉及存储技术领域，特别是涉及一种基于磨损状态的NAND控制方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

随着互联网、云计算、物联网等技术的发展，固态硬盘作为新的一代存储广泛被应用。作为数据中心的最底端，固态硬盘承载着存储数据的关键任务。当固态硬盘出现故障，需要返厂返修时，固态硬盘上NAND颗粒本身的磨损情况对维修策略的制定影响较大，如不考虑NAND颗粒的磨损情况，将直接影响到维修后固态硬盘的健康状态。现有技术中，维修人员需要对返修的固态硬盘进行测试得到NAND颗粒的磨损情况，以参考NAND颗粒的磨损情况制定维修策略，导致维修人员的维修任务繁重。

发明内容

本发明的目的是提供一种基于磨损状态的NAND控制方法、装置、设备及计算机可读存储介质，用于更为便捷地实现基于NAND磨损状态实现维修后NAND的控制，减少人工维修任务量，保证返修后固态硬盘的质量和寿命。

为解决上述技术问题，本发明提供一种基于磨损状态的NAND控制方法，基于固态硬盘控制器，包括：

监控所在固态硬盘的NAND磨损状态，得到NAND磨损状态监控结果；

当所述固态硬盘处于返修阶段时，获取当前时刻的NAND磨损状态监控结果；

根据当前时刻的NAND磨损状态监控结果更新所述固态硬盘的NAND控制参数。

可选的，所述NAND磨损状态监控结果具体为NAND擦写次数。

可选的，所述NAND控制指令具体为对各NAND颗粒的纠错参数。

可选的，所述监控所在固态硬盘的NAND磨损状态，得到NAND磨损状态监控结果，具体为：

以NAND组为单位，监控所述固态硬盘的NAND磨损状态，得到各所述NAND组的NAND磨损状态监控结果；

其中，所述NAND组包括多个NAND颗粒。

可选的，还包括：

根据所述NAND磨损状态监控结果更新预先在所述固态硬盘的固件中建立的磨损信息表中的信息；

相应的，所述获取当前时刻的NAND磨损状态监控结果，具体为：

调用所述磨损信息表以获取所述当前时刻的NAND磨损状态监控结果。

可选的，所述根据当前时刻的NAND磨损状态监控结果更新所述固态硬盘的NAND控制参数，具体包括：

查询预设的所述NAND磨损状态监控结果和所述NAND控制参数的对应关系，确定与所述当前时刻的NAND磨损状态监控结果对应的参考NAND控制参数；

将所述参考NAND控制参数与所述固态硬盘的唯一标识对应存储至预设位置；

当所述固态硬盘返修完毕后，接收根据所述参考NAND控制参数确定的最新NAND控制参数，并利用所述最新NAND控制参数更新对NAND颗粒的控制算法。

可选的，还包括：