[发明专利]一种基于激光传感器的镁碳砖自动检测方法在审
申请号: | 202011567194.5 | 申请日: | 2020-12-25 |
公开(公告)号: | CN112762845A | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 范学成;么文昊;于明月;赵英宇;刘得付;郝青 | 申请(专利权)人: | 唐山英莱科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01B11/30 |
代理公司: | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人: | 徐彦圣 |
地址: | 063000 河北省唐山市高新区卫国北*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 激光 传感器 镁碳砖 自动检测 方法 | ||
1.一种基于激光传感器的镁碳砖自动检测方法,其特征在于:具体包括以下步骤:
S1、平面度检测:首先通过激光传感器对镁碳砖的表面进行扫描,当激光传感器检测到有尺寸偏差时,通过公式获得其中1px为两点间的距离、θ1x为第一检测点的横坐标、θ2x为第二检测点的纵坐标、β1y为第二检测点的横坐标、β2y为第二检测点的纵坐标;
S2、一次检测分析:当S1中或者的数值大于0.5mm时,此时可自动判定镁碳砖不合格,当S1中或者数值小于0.5mm时,此时可自动判定镁碳砖合格,在满足镁碳砖表面的平面度检测后,的数值还可以自动判定镁碳砖的表面是否存在颗粒物或者边缘破损;
S3、厚度检测:初始状态下激光传感器发出激光检测镁碳砖初始高度,当有镁碳砖经过时激光传感器发生高度差变化,变化的差值即是镁碳砖标准高度,当激光传感器发生高度差变化时存在多个变化值时,需要进一步判定镁碳砖的厚度;
S4、二次检测分析:经过S2中的检测分析,镁碳砖在满足平面度检测的标准后,镁碳砖的表面可能会存在合格状态下的颗粒物或者边缘破损,此时激光传感器发生高度差变化时需要剔除存在时间短的变化值,选取存在时间长的变化值为镁碳砖的标准厚度即可。
2.根据权利要求1所述的一种基于激光传感器的镁碳砖自动检测方法,其特征在于:所述S1中激光传感器对镁碳砖检测尺寸偏差时,需要在镁碳砖的表面建立坐标系,且镁碳砖的长度方向和宽度方向分别对应x轴方向和y轴方向。
3.根据权利要求1所述的一种基于激光传感器的镁碳砖自动检测方法,其特征在于:所述S1中进行平面度检测时,其中利用极值点选取模块(1)、分析单元(2)、计算模块(3)、反馈模块(4)和显示模块(5)。
4.根据权利要求3所述的一种基于激光传感器的镁碳砖自动检测方法,其特征在于:所述极值点选取模块(1)的输出端与分析单元(2)的输入端连接,所述分析单元(2)的输出端均与计算模块(3)和显示模块(5)的输入端连接。
5.根据权利要求3所述的一种基于激光传感器的镁碳砖自动检测方法,其特征在于:所述计算模块(3)的输出端与反馈模块(4)的输入端连接,所述反馈模块(4)的输出端与分析单元(2)的输入端连接。
6.根据权利要求1所述的一种基于激光传感器的镁碳砖自动检测方法,其特征在于:所述当S2中的数值小于0.5mm时,此时可自动判定镁碳砖的表面存在合格状态下的颗粒物或者边缘破损。
7.根据权利要求1所述的一种基于激光传感器的镁碳砖自动检测方法,其特征在于:所述当S2中的数值大于0.5mm时,此时可自动判定镁碳砖的表面存在合格状态下的颗粒物和边缘破损。
8.根据权利要求1所述的一种基于激光传感器的镁碳砖自动检测方法,其特征在于:所述S4中激光传感器发生高度差变化时需要剔除存在时间短的变化值时,当时间短的变化值较多时,镁碳砖的表面存在较多颗粒物和边缘破损,镁碳砖需要进行优化处理。
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