[发明专利]一种3D玻璃热弯后倒角测量治具在审

专利信息
申请号: 202011563984.6 申请日: 2020-12-25
公开(公告)号: CN112857241A 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: 吴建勇;魏中凯 申请(专利权)人: 安徽金龙浩光电科技有限公司
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 合肥金律专利代理事务所(普通合伙) 34184 代理人: 段晓微
地址: 233000 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 玻璃 热弯后 倒角 测量
【说明书】:

发明提出了一种3D玻璃热弯后倒角测量治具,包括:基准板,基准板上固定有定位基块和位于定位基块一侧的主限位挡块,定位基块相对于主限位挡块的一侧侧面为斜面,且该斜面与基准板相接处设有根据产品预定热弯曲度匹配的曲面。本发明解决了3D玻璃热弯后无法测量倒角问题,并能在产品尺寸异常时快速判断出是否为倒角产生,提高异常分析效率,缩短问题排查时间,保证生产正常进行。

技术领域

本发明涉及玻璃加工技术领域,具体涉及一种3D玻璃热弯后倒角测量治具。

背景技术

现有技术中,3D玻璃正常测量方式为产品平放进行二次元投影测量。由于2D玻璃倒角直接影响3D热弯后外形尺寸,而现有处测量方式在出现3D玻璃热弯后尺寸异常时,仅能排查2D来料,针对热弯尺寸异常无法准确判定是否为倒角所引起的尺寸不良,使得发生热弯后尺寸不良时,无法排查是否为来料倒角影响。

发明内容

为了解决背景技术存在的技术问题,本发明提出的一种3D玻璃热弯后倒角测量治具。

本发明提出的一种3D玻璃热弯后倒角测量治具,包括:基准板,基准板上固定有定位基块和位于定位基块一侧的主限位挡块,定位基块相对于主限位挡块的一侧侧面为斜面,且该斜面与基准板相接处设有根据产品预定热弯曲度匹配的曲面。

优选地,基准板上且位于定位基块和主限位挡块的还设有副限位挡块。

优选地,主限位挡块设有一个以上,各主限位挡块沿斜面的宽度方向间距布置。

优选地,主限位挡块设有两个。

本发明中,利用定位基块与主限位挡块配合将待检测产品限制在二者之间,并使该待检测产品主体与定位基块的斜面贴合,并利用主限位挡块对弯曲边进行阻挡限位,该治具以产品角度进行曲面设计,解决了3D玻璃热弯后无法测量倒角问题,并能在产品尺寸异常时快速判断出是否为倒角产生,提高异常分析效率,缩短问题排查时间,保证生产正常进行。

附图说明

图1为本发明提出的一种3D玻璃热弯后倒角测量治具的结构示意图。

图2为本发明提出的一种3D玻璃热弯后倒角测量治具的主视图。

图3为本发明提出的一种3D玻璃热弯后倒角测量治具工作状态示意图。

具体实施方式

参照图1-2,本发明提出的一种3D玻璃热弯后倒角测量治具,包括:基准板1,基准板1上固定有定位基块2和位于定位基块2一侧的主限位挡块3,定位基块2相对于主限位挡块3的一侧侧面为斜面21,且该斜面21与基准板1相接处设有根据产品预定热弯曲度匹配的曲面22。

参照图3,检测作业时,将待检件A工件置于定位基块2与主限位挡块3之间,并使待检件A的背面贴靠于斜面21上,使待检件A的弯曲边抵靠在主限位挡块3上,通过观察待检件A弯曲面在曲面22处位置以及与曲面22贴合情况即可判断出待检件A是否合格,以及不合格的原因是否为来料倒角影响。

由上可知,本发明中,利用定位基块2与主限位挡块3配合将待检测产品限制在二者之间,并使该待检测产品主体与定位基块2的斜面21贴合,并利用主限位挡块3对弯曲边进行阻挡限位,该治具以产品角度进行曲面22设计,解决了3D玻璃热弯后无法测量倒角问题,并能在产品尺寸异常时快速判断出是否为倒角产生,提高异常分析效率,缩短问题排查时间,保证生产正常进行。

此外,本实施例中,基准板1上且位于定位基块2和主限位挡块3的还设有副限位挡块4,以在检测作业时,在工件的一侧形成限位。

本实施例中,主限位挡块3设有两个,两个主限位挡块3沿斜面21的宽度方向间距布置,以方便观察。

以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

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