[发明专利]针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法有效

专利信息
申请号: 202011560152.9 申请日: 2020-12-25
公开(公告)号: CN112747693B 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 张晓磊;左超;胡岩;沈德同;尹维 申请(专利权)人: 南京理工大学智能计算成像研究院有限公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 北京翔瓯知识产权代理有限公司 11480 代理人: 向维登
地址: 210000 江苏省南京市建邺*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 针对 反光 物体 一种 基于 彩色 图像 检测 三维 测量方法
【权利要求书】:

1.针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法,其特征在于,步骤如下:

步骤一,利用三维测量系统对彩色图像中的高反光区域进行检测,将图像分为非反光区域和反光区域;

步骤二,对于非反光区域,采用基于三步相移的高频条纹图进行三维测量;

步骤三,对于反光区域,采用基于多步相移的低亮度低频条纹图进行三维测量;

步骤四,对两种三维测量结果进行融合,从而得到最后的具有高完整度的三维测量结果。

2.根据权利要求1所述的针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法,其特征在于,所述三维测量系统包括一个彩色相机和一个投影仪,投影仪只能投影灰度值为0-255范围内的灰度图像,彩色相机同步采集图像。

3.根据权利要求2所述的针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法,其特征在于,所述步骤一具体为:

首先,投影仪对物体投影一幅均匀光强图案,I0(x,y)表示投影的均匀光强图案中每个像素的光强值,I0(x,y)=128,彩色相机同步采集得到RGB图像Y(x,y)表示RGB图像中每个像素的亮度值,Y(x,y)=0.2126×R(x,y)+0.7152×G(x,y)+0.0722×B(x,y),R(x,y)、G(x,y)、B(x,y)分别是RGB图像的三个通道的图像;

然后,对RGB图像进行归一化,

r(x,y)=R(x,y)/(R(x,y)+G(x,y)+B(x,y))

g(x,y)=G(x,y)/(R(x,y)+G(x,y)+B(x,y))

b(x,y)=1-r(x,y)-g(x,y)

r(x,y)、g(x,y)、b(x,y)分别是归一化后的RGB图像的三个通道的图像,

并对归一化后的RGB图像重新计算亮度,

y(x,y)=0.2126×r(x,y)+0.7152×g(x,y)+0.0722×b(x,y);

最后,比较y(x,y)和Y(x,y)获得反光区域的检测结果,

其中,非反光区域的判断条件Mask(x,y)=0,反光区域的判断条件Mask(x,y)=1。

4.根据权利要求3所述的针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法,其特征在于,所述步骤二具体为:

首先,通过投影仪投影基于三步相移的高频条纹图:

其中,和为投影仪投影的三步相移条纹图像,(xp,yp)为投影仪平面的像素坐标,W是投影仪的水平分辨率,f是三步相移条纹图像的频率;

其次,通过彩色相机同步拍摄投影的条纹图像,采集的三步相移条纹图像的光强图被表示为:

I1(x,y)=A(x,y)+B(x,y)cos(Φ(x,y))

I2(x,y)=A(x,y)+B(x,y)cos(Φ(x,y)+2π/3)

I3(x,y)=A(x,y)+B(x,y)cos(Φ(x,y)+4π/3)

其中,I1(x,y)、I2(x,y)和I3(x,y)为对应的三步相移条纹图像光强图,(x,y)为相机平面的像素坐标,A(x,y)为背景光强,B(x,y)为条纹的调制度,Φ(x,y)为待求相位;

然后,基于采集的三步相移条纹图像,包裹相位图由下式计算而得:

由于arctan函数的截断效应,求得的相位图为包裹相位,其值域为[0,2π],其与Φ(x,y)的关系如下:

其中,k(x,y)为相位的周期级次,其值域为[0,f-1]范围内的整数;

然后,根据多频时间相位展开算法获得绝对相位Φ(x,y);

最后,根据相机和投影仪之间的系统参数和非反光区域的判断条件Mask(x,y)=0,实现非反光区域的三维测量。

5.根据权利要求3所述的针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法,其特征在于,所述步骤三具体为:

首先,投影仪投影基于多步相移的低亮度低频条纹图进行三维测量:

其中,为投影仪投影的基于多步相移的低亮度低频条纹图,N是低亮度低频条纹图的总相移步数,flow为低亮度低频条纹图的频率,W代表投影仪的横向分辨率,(xp,yp)是投影仪的投影平面上的二维坐标;

其次,彩色相机同步拍摄投影的多步相移条纹图像,通过多步相移算法获得高反光区域的相位;

然后,根据多频时间相位展开算法获得绝对相位;

最后,最后根据相机和投影仪之间的系统参数和反光区域的判断条件Mask(x,y)=1,从而实现高反光区域的三维测量。

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