[发明专利]基于全卷积一阶目标检测的特征融合方法、设备及介质在审
| 申请号: | 202011543604.2 | 申请日: | 2020-12-24 |
| 公开(公告)号: | CN112560979A | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
| 发明(设计)人: | 王堃 | 申请(专利权)人: | 江苏禹盛科技有限公司 |
| 主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62;G06N3/04 |
| 代理公司: | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人: | 曹婷 |
| 地址: | 210000 江苏省南京市栖霞区马*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 卷积 一阶 目标 检测 特征 融合 方法 设备 介质 | ||
1.一种基于全卷积一阶目标检测算法的特征融合方法,其特征在于,包括:
步骤S1:对第三特征P31进行逐步回归得到第三特征P32;
步骤S2:对所述第三特征P32进行下采样得到第三特征P32',对第二特征P21进行逐步回归得到第二特征P21',结合所述第三特征P32'和所述第二特征P21'输出第二特征P22;
步骤S3:对第一特征P11进行逐步回归得到第一特征P11',对所述第二特征P22进行下采样得到第二特征P22',结合所述第一特征P11'和所述第二特征P22'输出第一特征P12;
步骤S4:对所述第一特征P12进行逐步回归得到第一特征P12',所述第一特征P12'即为第一特征P13;
步骤S5:对所述第一特征P13进行上采样得到第一特征P13',对所述第二特征P22进行逐步回归得到第二特征P22″,结合所述第一特征P13'和所述第二特征P22″输出第二特征P23;
步骤S6:对所述第二特征P23进行上采样得到第二特征P23',对所述第三特征P32进行逐步回归得到第三特征P32″,结合所述第二特征P23'和所述第三特征P32″输出第三特征P33;
其中,所述第二特征P21通过将数据输入到第二卷积层卷积得到;所述第一特征P11包括经过第一卷积层卷积的输入数据和上采样后的所述第二特征P21;所述第三特征P31是通过对所述第二特征P21进行下采样后得到。
2.如权利要求1所述的基于全卷积一阶目标检测算法的特征融合方法,其特征在于,所述第三特征P31顶部还包括至少一个第四特征P41,所述第一特征P11底部还包括至少一个第五特征P01,包括:
步骤S7:对第四特征P41进行逐步回归得到第四特征P42;
步骤S8:对所述第四特征P42进行下采样得到第四特征P42',对所述第三特征P31进行逐步回归得到第三特征P31',结合所述第四特征P42'和所述第三特征P31'输出第三特征P32;
步骤S9:实施所述步骤S2至步骤S3;
步骤S10:对所述第一特征P12进行下采样得到第一特征P12',对所述第五特征P01进行逐步回归得到第五特征P01',结合所述第一特征P12'和所述第五特征P01'输出第五特征P02;
步骤S11:对所述第五特征P02进行逐步回归得到第五特征P02',所述第五特征P02'即为第五特征P03;
步骤S12:对所述第五特征P03进行上采样得到第五特征P03',对所述第一特征P12进行逐步回归得到第一特征P12″,结合所述第五特征P03'和所述第一特征P12″输出第一特征P13;
步骤S13:实施所述步骤S5至步骤S6;
步骤S14:对所述第三特征P33进行上采样得到第三特征P33',对所述第四特征P42进行逐步回归得到第四特征P42″,结合所述第三特征P33'和所述第四特征P42″输出第四特征P43;
其中,所述第四特征P41通过对所述第三特征P31进行下采样后得到;所述第五特征P01包括经过第零卷积层卷积的输入数据和上采样后的所述第一特征P11。
3.如权利要求1所述的基于全卷积一阶目标检测算法的特征融合方法,其特征在于,包括:
对所述第三特征P31进行逐步回归得到第三特征P32,则结合所述第二特征P23'、所述第三特征P32和所述第三特征P32″输出所述第三特征P33;
对所述第二特征P21进行逐步回归得到第二特征P21',则结合所述第一特征P13'、所述第二特征P21'和所述第二特征P22″输出所述第二特征P23;
对所述第一特征P11进行逐步回归得到第一特征P11',则结合所述第一特征P12'和所述第一特征P11'输出所述第一特征P13。
4.如权利要求1或3所述的基于全卷积一阶目标检测算法的特征融合方法,其特征在于,将所述第一特征P13作为所述第一特征P11、所述第二特征P23作为所述第二特征P21、所述第三特征P33作为所述第三特征P31至少一次重复步骤S1至步骤S6进行特征融合输出最终的第一特征P13、第二特征P23和第三特征P33。
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