[发明专利]一种基于烷烃与硅烷反应的SiC-CVD制程尾气为反应循环气FTrPSA可调节方法在审
| 申请号: | 202011537652.0 | 申请日: | 2020-12-23 |
| 公开(公告)号: | CN112657314A | 公开(公告)日: | 2021-04-16 |
| 发明(设计)人: | 汪兰海;钟娅玲;钟雨明;陈运;唐金财;蔡跃明 | 申请(专利权)人: | 浙江天采云集科技股份有限公司 |
| 主分类号: | B01D53/047 | 分类号: | B01D53/047;C01B33/04;C01B3/50;C01B3/56 |
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| 地址: | 314400 浙江省嘉兴市海宁市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 烷烃 硅烷 反应 sic cvd 尾气 循环 ftrpsa 调节 方法 | ||
本发明公开了一种基于烷烃与硅烷反应的SiC‑CVD制程尾气为反应循环气FTrPSA可调节方法,通过预处理、中温变压吸附、浅冷变压吸附浓缩、吸附净化、中浅温冷凝及中浅冷精馏诸多工序,实现以基于烷烃(甲烷或丙烷)与硅烷反应的SiC‑CVD晶体或薄膜外延生长制程尾气作为SiC‑CVD反应的循环气使用,并且可通过对循环反应气中各组分浓度及流量的调节,使得SiC晶体或薄膜的沉积效率与质量大幅度提高,既实现尾气的综合利用,又减少了尾气排放,弥补了SiC‑CVD制程尾气处理技术的空白。
技术领域
本发明涉及第三代半导体材料碳化硅(SiC)晶体及薄膜外延的CVD(化学气相沉积)生长过程中的尾气中含有常用的“碳(C)源”-甲烷(CH4)或丙烷(C3H8)与“硅(Si)源”-硅烷(SiH4),以及作为载气的氢气(H2)为主要成分的循环再利用,更具体的说是涉及一种基于烷烃与硅烷反应的SiC-CVD制程尾气为反应循环气FTrPSA(全温程变压吸附)可调节方法。
背景技术
碳化硅(SiC)作为第三代半导体材料,因其具有宽禁带、耐高温与高压、高频大功率,及耐辐射等优异特性,已广泛应用于IT及电子消费品、汽车、光伏光电、核反应堆,以及系统工作条件苛刻的航空航天与军事等领域的功率开关、变频变压、UPS等电力电子元器件,其中,单晶或外延薄膜是SiC材料得以广泛应用的关键生产步骤。
SiC晶体或薄膜外延制程有高温升华(PVT)、化学气相沉积(CVD)、液相生长(LPE)、分子束生长(MBE)、电子回旋共振等离子化学气相沉积(ECR-MPCVD)等,而工业上普遍采用的是具有生长温度低、生产批量大、晶体或外延薄膜均匀性好,以及操作易控制特点的CVD制程,其中,按参与反应的硅(Si)源和碳(C)源(称为“反应前驱物”)不同而又可分为无氯、含氯及同时含C/Si源的有机硅化合物的SiC-CVD生长制程,进而,不同的生长制程所产生的尾气组成也不尽相同,处理方法随之也不同。
在基于甲烷/烷烃与硅烷反应的无氯SiC-CVD晶体或薄膜外延生长制程中,通常以CH4或C3H8作为“C源”的反应前驱物,以SiH4作为“Si源”的反应前驱物,在以氢气(H2)或惰性氩气(Ar)为载气的携带下进入CVD反应腔(炉),在一定温度及压力下进行化学气相沉积反应以获得SiC晶体或衬底上的外延薄膜的生长,其中,晶体或薄膜生长质量的好坏,除了取决于反应前驱物的纯度、反应温度、压力、进料气(前驱物)流速、反应时间、反应腔结构等工艺条件外,也取决于反应前驱物之间的浓度或流量的配比,如“C/Si”进料比例为2~5:1、H2浓度50~90%等。实际操作时,一般是通过调整进料气CH4或SiH4或H2的进料量来实现“C/Si/H2”的适宜配比。而在CVD反应过程中,除了产生固体的晶体或薄膜外延产品外,在气相中仍然含有参与反应的反应生成物H2、CH4及少量的乙烷(C2H6)、Si粉或Si团簇或C粉等固体微小颗粒,还有未反应完的CH4、SiH4,不参与反应的载气H2,以及微量或痕量的其它杂质,如一氧化碳(CO)、二氧化碳(CO2)等,
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