[发明专利]一种问题诊断方法、系统及电子设备

说明书

本发明实施例提供了一种问题诊断方法、系统及电子设备。其中，所述方法包括：获取待分析的目标问题；确定与目标问题对应的第一目标议程；根据第一目标议程对应的规则，选择第一分析子单元，将目标问题作为第一分析子单元的入参，执行第一分析子单元；根据第一分析子单元的分析结果和规则，确定待执行操作；当待执行操作为选择第二分析子单元时，执行第二分析子单元，并确定待执行操作；当待执行操作为选择第二目标议程时，将第一分析子单元的分析结果作为新问题，确定与新问题对应的第二目标议程；当待执行操作为输出诊断结果时，将第一分析子单元的分析结果确定为目标问题的诊断结果。可以提高问题诊断效率。

技术领域

本发明涉及运维技术领域，特别是涉及一种问题诊断方法、系统及电子设备。

背景技术

工作人员在运维过程中可能遇到各种问题，例如设备可能无法与远程服务器建立连接、程序无法正常启动、系统崩溃等。为使得工作人员能够准确解决这些问题，需要确定导致问题发生的原因。

但是对于同一个问题，可能有多个不同的原因能够导致该问题的发生，因此相关技术中需要由具备一定经验的工作人员对所发生的问题进行人工分析从而确定导致问题发生的原因。

该方式较为繁琐并且对工作人员有一定的要求，因此不利于实施、效率较低。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种问题诊断方法、系统及电子设备，以实现提高问题诊断效率。具体技术方案如下：

在本发明实施例的第一方面，提供了一种问题诊断方法，所述方法包括：

获取待分析的目标问题；

按照预先设置的问题与议程之间的对应关系，确定与所述目标问题对应的第一目标议程，所述第一目标议程包括至少一个分析子单元、以及用于指示各个分析子单元间的调度路径的规则；

根据所述第一目标议程对应的规则，选择第一分析子单元，将所述目标问题作为所述第一分析子单元的入参，执行所述第一分析子单元；

根据所述第一分析子单元的分析结果和所述规则，确定待执行操作；

当所述待执行操作为选择第二分析子单元时，将所述第一分析子单元的分析结果作为所述第二分析子单元的入参，执行所述第二分析子单元，并根据所述第二分析子单元的分析结果和所述规则，确定待执行操作；

当所述待执行操作为选择第二目标议程时，将所述第一分析子单元的分析结果作为新问题，按照所述预先设置的问题与议程之间的对应关系，确定与所述新问题对应的第二目标议程；

当所述待执行操作为输出诊断结果时，将所述第一分析子单元的分析结果确定为所述目标问题的诊断结果。

在一种可能的实施例中，所述执行所述第一分析子单元或执行所述第二分析子单元的分析过程，包括：

根据分析子单元的入参，以及预设的实验工具与待分析条件之间的映射关系，确定目标实验工具，所述待分析条件为分析子单元中用于推理问题原因的假说条件；调用所述目标实验工具进行实验，得到实验结果；根据所述实验结果，确定分析子单元的分析结果；

或者，

根据分析子单元的入参，确定分析子单元关联的实验工具的输入信息，并根据所述输入信息，调用所述分析子单元关联的实验工具，得到实验结果；根据所述实验结果，确定分析子单元的分析结果。

在一种可能的实施例中，当所述目标实验工具的数量大于1或所述分析子单元关联的实验工具的数量大于1时，按预设顺序调用各个实验工具；

所述根据所述实验结果，确定分析子单元的分析结果，包括：

根据各个实验工具的实验结果，确定分析子单元的分析结果。