[发明专利]宏检查方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质

说明书

本申请提供了一种宏检查方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，其中，该方法包括：获取第一宏列表，该第一宏列表中包括多项待检查宏的宏信息；对原始宏定义报告进行遍历，以得到第二宏列表，该原始宏定义报告为对芯片设计进行处理得到的报告；将所述第一宏列表与所述第二宏列表进行匹配，以得到所述第一宏列表的验证结果；根据所述验证结果生成对应的检查报告。通过本申请实施例中的宏检查方法，能够实现自动对宏的检查，提高宏检查的效率。

技术领域

本申请涉及芯片设计技术领域，具体而言，涉及一种宏检查方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。

背景技术

由于对芯片的要求越来越多，导致在设计阶段需要为系统级芯片配置的功能也就越来越多，为了验证芯片设计的各个功能的正确性，通常会构建不同的验证环境对芯片设计的功能进行验证。通过在验证环境中对芯片设计进行编译并进行仿真以实现对芯片设计的验证，而对芯片设计的编译会受到预定义的宏的控制，验证环境会根据宏的定义选择性地对芯片设计进行编译，如果宏定义出错，则编译后的芯片设计可能会存在较大的误差，从而影响芯片的验证的准确率。

因此，在芯片设计的验证之前，还需要对预定义的宏进行检查。目前的检查方式一般通过人工检查宏的实际使用的代码，人工检查方式效率低。

发明内容

本申请的目的在于提供一种宏检查方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，以解决人工检查方式效率低。

第一方面，本发明提供一种宏检查方法，包括：

获取第一宏列表，所述第一宏列表中包括多项待检查宏的宏信息；

对原始宏定义报告进行遍历，以得到第二宏列表，所述原始宏定义报告为对目标芯片设计进行处理得到的报告；

将所述第一宏列表与所述第二宏列表进行匹配，以得到所述第一宏列表的验证结果；

根据所述验证结果生成对应的检查报告。

在可选的实施方式中，所述将所述第一宏列表与所述第二宏列表进行匹配，以得到所述第一宏列表的验证结果，包括：

将所述第一宏列表中的目标宏信息与所述第二宏列表进行匹配，以确定所述第二宏列表中是否存在与所述目标宏信息匹配成功的宏信息，所述目标宏信息为所述第一宏列表中的任意一项宏信息；

当所述第二宏列表中存在与所述目标宏信息匹配的宏信息，则表征所述目标宏信息验证通过；

当所述第二宏列表中各项宏信息未与所述目标宏信息匹配成功，则表征所述目标宏信息验证未通过。

在上述实施方式中，通过将宏信息进行逐一对比，以识别出原始宏定义报告对应的第二宏列表是否存在需要验证的宏，可以使验证更加精细，也可以使验证的结果也就更加准确。

在可选的实施方式中，每项宏信息包括至少一项属性元素，所述至少一项属性元素包括：存在属性；所述存在属性用于标识对应的宏是否为需要的宏；所述将所述第一宏列表中的目标宏信息与所述第二宏列表进行匹配，以确定所述第二宏列表中是否存在与所述目标宏信息匹配成功的宏信息，包括：

当所述目标宏信息的存在属性为第一标识时，在所述第二宏列表中进行查找，以确定所述第二宏列表中是否存在所述目标宏信息对应的目标宏，若所述第二宏列表中存在所述目标宏，则表征所述目标宏信息验证通过，若所述第二宏列表中不存在所述目标宏，则表征所述目标宏信息验证未通过；

当所述目标宏信息的存在属性为第二标识时，在所述第二宏列表中进行查找，以确定所述第二宏列表中是否存在所述目标宏信息对应的目标宏，若所述第二宏列表中不存在所述目标宏，则表征所述目标宏信息验证通过，若所述第二宏列表中存在所述目标宏，则表征所述目标宏信息验证未通过。